ICT测试局限性

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1、ICT测试局限性在实际的电路板上,大量各式主,被动组件通过串,并联方式连接起来.下述情形,ICT无法测试或无法准确测试.1)探针不可即的零件一般来说,每个零件的两端(或各引脚)所在的铜箔面均有探针触及才可测试.目前,本厂SMT零件,IC脚(包括悬空引脚)少数因没有相应的TestPoint而未取探针,致使这颗零件以及与之相关的开短路不可测.今后可考虑在同一金道上加装双针(确保探点接触良好)来解决.Sub-Board上的零件,多数零件没有取到针号,故不可测.最好是生产时Sub-Board亦用ICT测试.2)小电容并联大电容(C1//C2),小

2、电容不可测两电容并联后,容值为C1+C2,一般而言,如果C2的容值是C1的10倍以上,则C1不可测.假设:C1=100nF;C2=1uF.通常,实际之电容均以标准电容量的±20%的误差表示之.故在编制程序时,通常设±Tolerance为20.设标准值为100nF+1uF=1100nF.则:下限为1100nF*(1-20%)=880nF;上限为1100nF*(1+20%)=1320nF.当C1缺件时,C1+C2=1000nF,仍在880nF~1320nF的范围内,故C1不可测.实际电子线路中,常见大,小电容并联,或者是小电容经电感或小电阻与

3、大电容并联.所以小电容不可测的情形最常遇到.3)大电阻并联小电阻R1//R2,大电阻不可测一般而言,如果R1的阻值是R2的20倍以上,则R1不可测.两电阻并联后,其阻值为R1*R2//(R1+R2),比小电阻略小.这时大电阻缺件不可测.当然,如果R2错成R1,只要下限小于50,仍然可测.计算方法同样可参照以下计算方法,假设R1是10欧姆,R2是200欧姆,上下限为±10%,则设定标准值为R1*R2//(R1+R2)=9.5下限为9.5*(1-10%)=8.55上限为9.5*(1+10)=10.45当R2缺件时,R1//R2=10,仍然在8

4、.55~10.45的范围内,故R2缺件不可测。如果R2错件成R1,则R1//R2=5,不在8.55~10.455的范围内,所以错件可以测出。同理,与跳线并联的电阻(J//R),不可测.1)小电阻过小,无法准确测试.虑及探针接触电阻,排线公母连接器之间电阻(反复插拔会增大)等影响,(约几百毫欧至几欧),故上限要放宽.例如:四颗0.47ohm的电阻并联,假设其中一颗缺件,系统不可测.另外通过PINSearch可以探测到探针到开关板之间的阻抗值,应保证在1欧姆以内,测试小电阻就比较准确了,也可以尝试四线制测试小电阻。具体0.1ohm的电阻﹐误差

5、=+/-20%2)同一金道上的跳线以及相并联的的跳线不可测,不同粗细或不同材质的跳线不可测.3)大电阻//大电容,大电阻无法准确测试.这是所说的"大",实际调试时才能判定是否可测.从测试原理部分分析:例如:R1为100k欧姆的电阻同1mf的电容C1并联,电容的容抗为:Zc=1/(2*3.14*50*1*0.001)=3.18电阻的阻抗为:Zr=100000欧姆R1//C1=Zr*Zc/Zr+Zc=100000*3.18/(100000+3.18)=3.17所以可以看出,大电阻无法准确测试,具体电路还要具体分析,套用上述公式计算是否可以准确

6、测试。4)小电容//小电阻,小电容无法准确测试.釆用AC法,小电容呈现高阻抗,与大电阻并联小电阻同理,小电容无法测.釆用交流相位分离法,当电容,电阻均较小时,其相拉差渐趋于0.故小电容也无法准确测量.5)与小电感并联的较大电阻,常不可测.釆用定电流法,电感通直流,使电阻两端短接而不可测.釆用交流相位分离法,小电感并联大电阻,其相拉差渐趋于π/2.故常不可测.而与大电感并联的小电阻,则可试蓍以相位分离法测量出来.6)电容并联电感,,两者往往都不可测.这时所说的电感,包括变压器,继电器等.小电容并联小电感,同理于小电容//小电阻,小电容无法准

7、确测试..当电容较大时,其本身一般可以测.电容较小时,电感感值可以测.当然,如把电感当成一小电阻(一般须加延时测试),始终可以测出内部断开或缺件的情形.7)二极管//小电阻,二极管插反或漏件均不可测对于硅材质的二极管,其正向偏置电压约为0.7V.当R约为35~45ohm以下时,二极管插反或漏件均不可测.因ICT系非破坏性测试,所提供电流较小,一般最大约为20mA(MODE1).当R约为35ohm以下时,其正反向所量到的电压小于V=I*R=0.7V.则二极管插反甚至漏件,所量到的结果不变.1)与跳线或电感并联的二极管(L//D,J//D)不

8、可测通常二极管的正向压降为0.7V,反向压降>0.7V.与第10条同理,如果D//J或D//L.则,正反向压降约为0.这时,二极管插反,漏件,ICT测到的结果仍为0,和正确时相同,故不可测.2

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