SPC计算公式

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1、SPC统计过程控制(SPC统计量介绍)北京钢冶联信息科技1常用统计量Mean:(平均值)Max:(最大值)Min:(最小值)Range:(Max-Min最大跨距)StdDev标准差Cp:(过程能力指数)Cr:(过程能力比值)k:(偏移系数)Cpu:(上限过程能力指数)Cpl:(下限过程能力指数)Cpk:(过程能力指数)Cpm:(目标能力指数)Zu(Cap):(规格上限SIGMA水平)Zl(Cap):(规格下限SIGMA水平)Fpu(Cap):(超出规格上限机率)2常用统计量Fpl(Cap):(超出规格下限机率)Fp(Cap):(超出规格限的机率)Pp:(过

2、程性能指数)Pr:(过程性能比值)Ppu:(上限过程性能指数)Ppl:(下限过程性能指数)Ppk:(过程性能指数)Ppm:(目标过程性能指数)Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平)Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平)Fpu(Perf):(超出规格上限机率)Fpl(Perf):(超出规格下限机率)Fp(Perf):(超出规格界线的机率)Skewness:(偏度)Kurtosis:(峰度)3计算公式2、Max最大值3、Min最小值4、Range最大跨距1、Mean均值例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Mean=(2+4+6+4)/4=

3、4例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Max(2,4,6,4)=6例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Min(2,4,6,4)=2例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Range(2,4,6,4)=6-2=44计算公式6、Cp:(过程能力指数)7、Cr:(过程能力比值)5、StdDev标准差例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求例:产品规格为(40±0.5),产品标准差为0.4,试计算CPCP=(40.5-39.5)/(60.4)=1/2.4=0.42例:产品规格为(40±0.5),产品标准差为0.4,试计算CrCr=(

4、60.4)/(40.5-39.5)=2.45计算公式8、k:(偏移系数)例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,试计算KK=(40.2-40))/((40.5-39.5)/2)=0.4评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标!规格中心M产品均值μ规格宽度TK越大说明产品均值偏离中心值越远;6计算公式规格下限LSL产品均值μ规格上限USL所有检验数据形成一个数据分布,而用可以衡量数据分布离散的大小;越小分布越好,数据越集中9、Cpu:(上限过程能力指数)例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpu;Cpu=

5、(40.5-40.2))/(0.43)=0.3/1.2=0.25※Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少;7计算公式10、Cpl:(下限过程能力指数)例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpl;Cpl=(40.2-39.5))/(0.43)=0.7/1.2=0.58规格下限LSL产品均值μ规格上限USL所有检验数据形成一个数据分布,而用可以衡量数据分布离散的大小;越小分布越好,数据越集中※Cpl越大,产品检验数据超出下限的概率就越小,也就是说产品超出下限的不合格品数量就

6、越少;8计算公式12、Cpm:(目标能力指数)11、Cpk:(修正的过程能力指数)Cpk=Min(Cpl,Cpu)=Cp(1-k)例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk;Cpk=Min(0.25,0.58)=0.25或Cpk=0.42(1-0.4)=0.25例:产品规格为(40±0.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm;Cpm=1/2.4=0.429计算公式产品均值μ规格上限USL13、Zu(Cap):(规格上限SIGMA水平)Zu(Cap)表示产品均值离规格上限有多少倍标准

7、差?也表示为几个SIGMA10计算公式产品均值μ规格上限USLZl(Cap)表示产品均值离规格下限有多少倍标准差?也表示为几个SIGMA14、Zl(Cap):(规格下限SIGMA水平)11计算公式Fpu(Cap)表示产品检验结果超出规格上限的概率15、Fpu(Cap):(超出规格上限概率)规格上限USL12计算公式Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率规格上限USL16、Fpl(Cap):(超出规格下限机率)13计算公式Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率规格上限USL规格上限LSL17、Fp(Cap):(超出产品规格上下限的概率

8、)14计算公式18、Pp:(过程性能指数)19、Pr:(过程性能比

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