JJF(闽)1043-2011接触(触针)式表面轮廓测量仪校准规范.pdf

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1、福建省地方计量技术规范JJF(闽)1043-2011接触(触针)式表面轮廓测量仪校准规范CalibrationSpecificationforContact(Stylus)SurfaceContourTester2011-6-10发布2011-6-10实施福建省质量技术监督局发布接触(触针)式表面轮廓测量仪校准规范JJF(闽)1043-2011CalibrationSpecificationforContact(Stylus)SurfaceContourTester本规范经福建省质量技术监督局于2011年6月10日批准,并自2011年6月10日起施行。归口单位:福建省质量技术监督局

2、主要起草单位:福建省计量科学研究院本规范委托起草单位负责解释。本规范主要起草人:林景星(福建省计量科学研究院)张建群(福建省计量科学研究院)王朝阳(福建省计量科学研究院)陈晓燕(福建省计量科学研究院)目录1范围………………………………………………………………………(1)2引用文件…………………………………………………………………(1)3术语………………………………………………………………………(1)4概述………………………………………………………………………(2)5计量特性…………………………………………………………………(2)5.1外观…………………………………………………………

3、…………(2)5.2静态测量力……………………………………………………………(2)5.3基准导轨直线度………………………………………………………(2)5.4轮廓垂直分量(Z轴)示值误差………………………………………(2)5.5轮廓水平分量(X轴)示值误差………………………………………(2)5.6半径测量示值误差……………………………………………………(2)5.7半径测量重复性………………………………………………………(2)5.8角度测量示值误差……………………………………………………(3)5.9角度测量重复性………………………………………………………(3)6校准条件……………………

4、……………………………………………(3)6.1环境条件………………………………………………………………(3)6.2标准器及其它设备……………………………………………………(3)7校准项目和校准方法……………………………………………………(3)7.1静态测量力……………………………………………………………(4)7.2基准导轨直线度………………………………………………………(4)7.3轮廓垂直分量(Z轴)示值误差………………………………………(4)7.4轮廓水平分量(X轴)示值误差……………………………………(4)7.5半径测量示值误差……………………………………………………(4)7.

5、6半径测量重复性………………………………………………………(4)7.7角度测量示值误差……………………………………………………(5)7.8角度测量重复性………………………………………………………(5)8校准结果表达……………………………………………………………(5)9复校时间间隔……………………………………………………………(5)附录A校准记录和校准证书校准结果内页(式样)………………………(6)附录B轮廓仪示值误差校准结果不确定度评定(示例)…………………(9)附录C极差系数C数值表…………………………………………………(18)标准分享网www.bzfxw.com免费下载引言本规

6、范参照GB/T19600-2004《产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的校准》、GB/T6062-2009《产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性》和接触(触针)式仪器使用说明书制定,其编写格式执行JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》。由于国家标准没有规定技术指标,各个制造厂技术指标不统一。本规范要求的计量特性技术要求(最大允许误差)采取:“验收检验时,按照合同规定;校准时,由用户规定”。本规范用于接触(触针)式表面轮廓测量仪的校准,为保证其量值的准确可靠而制定的校准技术规范。接触(触针)式表面轮廓测量仪校准规

7、范1范围本规范适用于以扫描法测量工件表面二维形状、位置参数的接触(触针)式表面轮廓测量仪(以下简称“轮廓仪”)的校准。2引用文件本规范引用了下列文件:GB/T3505-2009产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法表面结构的术语、定义及参数GB/T6062-2009产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性GB/T10610-2009产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法GB/T17163-2008几何量测量器具术

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