JJF(闽) 1043-2011 接触(触针)式表面轮廓测量仪校准规范

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1、福建省地方计量技术规范JJF（闽）1043－2011接触（触针）式表面轮廓测量仪校准规范CalibrationSpecificationforContact（Stylus）SurfaceContourTester2011-6-10发布2011-6-10实施福建省质量技术监督局发布接触（触针）式表面轮廓测量仪校准规范JJF（闽）1043－2011CalibrationSpecificationforContact（Stylus）SurfaceContourTester本规范经福建省质量技术监督局于2011年6月10日批准，并自2011年6月10日起施

2、行。归口单位：福建省质量技术监督局主要起草单位：福建省计量科学研究院本规范委托起草单位负责解释。本规范主要起草人：林景星（福建省计量科学研究院）张建群（福建省计量科学研究院）王朝阳（福建省计量科学研究院）陈晓燕（福建省计量科学研究院）目录1范围………………………………………………………………………（1）2引用文件…………………………………………………………………（1）3术语………………………………………………………………………（1）4概述………………………………………………………………………（2）5计量特性………………………………………………………

3、…………（2）5.1外观……………………………………………………………………（2）5.2静态测量力……………………………………………………………（2）5.3基准导轨直线度………………………………………………………（2）5.4轮廓垂直分量（Z轴）示值误差………………………………………（2）5.5轮廓水平分量（X轴）示值误差………………………………………（2）5.6半径测量示值误差……………………………………………………（2）5.7半径测量重复性………………………………………………………（2）5.8角度测量示值误差…………………………………………………

4、…（3）5.9角度测量重复性………………………………………………………（3）6校准条件…………………………………………………………………（3）6.1环境条件………………………………………………………………（3）6.2标准器及其它设备……………………………………………………（3）7校准项目和校准方法……………………………………………………（3）7.1静态测量力……………………………………………………………（4）7.2基准导轨直线度………………………………………………………（4）7.3轮廓垂直分量（Z轴）示值误差………………………………………（4）7.

5、4轮廓水平分量（X轴）示值误差……………………………………（4）7.5半径测量示值误差……………………………………………………（4）7.6半径测量重复性………………………………………………………（4）7.7角度测量示值误差……………………………………………………（5）7.8角度测量重复性………………………………………………………（5）8校准结果表达……………………………………………………………（5）9复校时间间隔……………………………………………………………（5）附录A校准记录和校准证书校准结果内页（式样）………………………（6）附录B轮廓仪示值误

6、差校准结果不确定度评定（示例）…………………（9）附录C极差系数C数值表…………………………………………………（18）标准分享网www.bzfxw.com免费下载引言本规范参照GB/T19600-2004《产品几何量技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触（触针）式仪器的校准》、GB/T6062-2009《产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触（触针）式仪器的标称特性》和接触（触针）式仪器使用说明书制定，其编写格式执行JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》。由于国家标准没有规定技术指标，各个制造厂技术指标不统一。本规范要求的计量特性

7、技术要求（最大允许误差）采取：“验收检验时，按照合同规定；校准时，由用户规定”。本规范用于接触（触针）式表面轮廓测量仪的校准，为保证其量值的准确可靠而制定的校准技术规范。接触（触针）式表面轮廓测量仪校准规范1范围本规范适用于以扫描法测量工件表面二维形状、位置参数的接触（触针）式表面轮廓测量仪（以下简称“轮廓仪”）的校准。2引用文件本规范引用了下列文件：GB/T3505-2009产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法表面结构的术语、定义及参数GB/T6062-2009产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触（触针）式仪器的标称特性GB/T106

8、10-2009产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法GB/T17163-2008几何量测量器具术