led半成品检验规范

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1、深圳市科信超声焊接设备有限公司文件编号：QI-QD-03版本：A4半成品检验规范页次：1／6日期04.04.26核准审查制定6上海视焕光电科技发展有限公司有限公司文件编号：QI-QD-03版本：A4产品检验规范页次：2／6日期：04．04．26次数发行日期页次修订记录新版本作废版102.09.191~6新版发行A1——203.03.261.2.5.6文件更改A2A1304.02.211.2.4文件更改A3A1.A2404.04.261.2.4文件更改A4A3修订记录6上海视焕光电科技发展有限公司有限公司文件编号：Q

2、I-QD-03版本：A1产品检验规范页次：3／6日期：02．09．19一、目的：为确保半成品检验作业之顺畅，生产过程中之品质得到合理有效的控制，减少不良品之生产。二、范围：适用于固晶、焊线、灌胶、生产过程中的一切品质控制作业。三、作业内容3.1固晶站半成品检验3.11依下列之项目进行检验NO:项目判定基础不良判别1漏固支架杯中未固晶粒。CR2混晶片晶片与生产工作单不符或同一批料中有颜色不同、电性不同晶粒。CR3晶片倒置晶片底部朝上而铝垫与银浆连接。CR4掉晶作业疏忽造成固好的晶粒遗失。CR5铝垫遗失晶片上铝垫遗失露

3、出晶片光泽。CR6多固晶片两晶粒上下重叠或多固一个多余晶片。CR7阳极沾胶阳极支架上面沾有胶、沾胶大于焊点面1/3以上。　CR8方向错误蓝、白光、双色类产品固晶方向反向。CR9晶片倾倒晶片歪倒在银胶中。CR10晶片倾斜晶片底部有一边偏离水平面。MA11银胶过多银浆超出晶片高度1/3以上。MA12银胶过少银浆量少于晶片高度1/4以下。MA13晶片破损破损面积大于晶片面积1/5以下。MA14铝垫刺伤固晶用力过大将铝垫刺伤。MA15杂物银胶中或杯碗中有污染物、杂物。MA16焊垫沾胶晶片焊垫沾胶。MA17杯壁沾胶杯碗周边沾

4、有银胶。（超过杯边2/5以上）。MA18位置不当银胶或晶片不在杯碗中心位置。MA19支架错位阳极与杯碗两边错开，不在一条直线上。MA6上海视焕光电科技发展有限公司有限公司文件编号：QI-QD-03版本：A4产品检验规范页次：4／6日期：04．04．263.2焊线半成品检验3.2.1依下列之项目进行检验NO项目判定基础不良判别1漏焊焊垫及第二焊点面皆无焊点痕迹。CR2断线第一与第二点之间任何一处断线。CR3塌线第一焊点塌线，金线与晶片边缘接触或塌线连接杯与支架两点造成短路。CR4虚焊焊垫问题或压力不够造成第一点或第二

5、点松焊。CR5焊垫打穿焊垫打穿之部分已露出晶片光泽。CR6晶片松动焊线后晶片底部银胶碎裂或晶片悬浮造成晶片松动。CR7晶片碎裂晶片表面或侧面出现裂痕或晶片粉碎状。CR8拉直线第一点与第二点连接成直线状。CR9方向错误兰、白光、双色类产品焊线方向反向或交叉。CR10尾线太长尾线超出晶片边缘或第二点留有线尾。MA11弧度过高焊线弧度大于1个晶片高度以上（或以支架面为基准、弧度高度超过16mil）。MA12弧度过低焊线弧度小于1/2个晶片高度(从晶片铝膜算起)。MA13偏焊焊点与焊垫接触面小于焊垫面积2/3。MA14线球

6、饼状线球过大或成饼状。MA15倒线弧度偏向一边。MA16支架错位第一点与第二点不在同一平面位置。MA17焊线相连因机器切线失误造成连续焊线。MA18金球大小金球过大超过亮光区或者球过小等于线径。MA19弧度变形线弧呈S形或其它不规格形状。MA20金球重叠焊垫上有两个焊点以上。MA21杂线支架上有造成短路之导电杂物或者杂线。MA22拉力不足1.0mil金线拉力不足6g，1.2mil金线拉力不足13g。MA6上海视焕光电科技发展有限公司有限公司文件编号：QI-QD-03版本：A2产品检验规范页次：5／6日期：03．03

7、．263.3灌胶站半成品检验3.3.1依下列之项目进行检验NO:项目判定基础不良判别1配胶错误配胶时所用胶水规格、比例不正确（与生产工作单不符）。CR2剪错卡点插支架使用之卡点与生产工作单要求的模粒卡点不符。CR3灌胶混料所插支架与生产工作单要求不符。CR4灌错型号生产作业之型号与生产工作单之型号所使用的原物料不相符。CR5胶色异样胶体之颜色与生产工作单要求之颜色差异明显（参照样品）。CR6用错模粒生产使用时的模粒型号规格与生产工作单要求不符。CR7胶体未干胶体离模时胶水未凝固或硬度不够且有变形或裂痕现象。MA8杯

8、碗汽泡封胶时空气置留于支架碗内形成泡状小球状。MA9支架插反插支架所插方向与生产工作单要求不符。MA10模粒刮伤胶体表面有裂痕或刮伤痕迹。MA11多胶或少胶胶体（指帽沿）部份多/少胶与正常相比超过0．2mm以上。MA12支架插偏支架插入模粒内未在模粒中心位。MA13支架沾胶支架PIN沾有胶。MA14裂胶因配胶错误或烘烤问题，造成离模后胶体裂胶。MA15胶体汽