集成电路(可能出现的题)

集成电路(可能出现的题)

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1、第三章集成电路中的器件及模型1.对MOS器件主要关心的是器件的阈值电压,电流方程,器件的瞬态特性,小信号工作的模型。2.阈值电压是一个重要的器件参数,它是MOS晶体管导通和截止的分界点。①当VGS>VT,而VDS=0时,在源—漏区之间形成均匀的导电沟道,无电位差,无电流。②当VDS>0但比较小时,在源—漏区有近似均匀的导电沟道,形成漏电流。③当VDS=VGS-VT时,漏端反型层电荷减少到零,沟道在源端夹断。④当VDS>VGS-VT时,沟道夹断的位置向源端方向移动,形成耗尽区。3.K,K'的关系:K是MOS晶体管的

2、导电因子。K'是本征导电因子。MOS晶体管的导电因子(K)由两方面因素决定:①K'②晶体管宽长比(W/L)4.亚阈值电流:MOS晶体管处于表面弱反型状态,即亚阈值区,在其沟道中存在反型载流子,以扩散为主运动,而形成的电流。亚阈值斜率:亚阈值电流减小一个数量级所对应的栅电压的变化。5.MOS管瞬态特性:①本征电容:与本征工作区电荷变化相联系的电容。②寄生电容:包括覆盖电容,源漏区PN结电容。6.大,小信号分别针对什么问题提出的?答:大信号针对数字电路提出的,小信号针对模拟电路提出的。7.本征晶体管的EM模型用来分析

3、什么问题。答:①晶体管饱和压降和工作电流的关系②晶体管的输出曲线8.集成双极晶体管的寄生效应有哪些?如何改善?答:①无缘寄生:寄生电阻和电容与PN结和电流通过的路径相关联②有缘寄生:由基极、集电极、隔离墙、衬底组成的PNP晶体管改善:①在工艺加工中掺金,增加复合中心数量②在集电区下设置n+埋层,加大寄生PNP管基区宽度③在NPN管收集结上并连一个SBD9.EM2模型怎么来的?答:在本征EM模型基础上增加反映寄生效应的元件。10.晶体管特征频率fT:晶体管交流输出短路共发射极电流增益β(f)=1时的工作频率。11.

4、无源元件分为:电阻器,电容器,电感器,(互连线)第四章1.COM反相器的直流噪声容限,开、关门电平分别针对什么?答:为了保证电路能正常工作,对电路的输入逻辑电平有一个允许的变化范围,这个范围就是直流噪声容限。它反映了电路的抗干扰能力,决定于电路所能承受的最差的输入逻辑电平。关门电平是电话允许的输入低电平的上限,而开门电平是电路允许的输入高电平的下限。2.CMOS与NMOS反相器的比较答:从直流特性看NMOS:负载元件常导通,是有比反相器,达不到最大逻辑摆幅,有较大静态功耗噪声容限。CMOS:NMOS,PMOS交替

5、导通,是无比电路,可获得最大逻辑摆幅,有利于减小静态功耗,可获得最大的直流噪声容限。从瞬态特性看NMOS:因为Kr>1,使得tr>>tf,因此限制了速度。CMOS:采用对称设计,使tr=tf,从而有利于提高速度。1.什么是类MOS,在什么情况下提出?答:因为静态CMOS逻辑门每个输入都有NMOS和PMOS两个管子,不利于减小面积和提高集成度,所以采用类MOS电路。类NMOS:只用NMOS管串,并联构成的逻辑功能块,上拉通路常导通的PMOS管代替PMOS逻辑功能块。类PMOS:只用PMOS逻辑块实现逻辑功能,下拉通

6、路的NMOS逻辑块用常导通的NMOS管代替。2.什么是富MOS,在什么情况下提出?答:为了避免形成直流通路,使上拉通路和下拉通路不能同时导通,故提出富MOS电路。用一对受时钟信号控制的NMOS管和PMOS管使上拉和下拉通路不能同时导通,用NMOS逻辑块实现逻辑功能,NMOS管占大多数,叫富NMOS电路。3.预充—求值动态电路中的电荷分享成因及解决方法。答:若输入信号在求值阶段变化,会引起电荷分享,使输出信号受到破坏。出现条件:φ=0时A=0,φ=1时A=1,B始终为0结果:输出高电平下降,下降比例与两个电容比值有

7、关解决方法:加反馈管和预充电管使输出电平恢复,克服电荷分享。(2)富MOS级联问题:为了避免预充—求值动态电路在预充期间的不真实输出影响下一级电路的逻辑操作,富NMOS与富NMOS(或富PMOS与富PMOS)电路不能直接级联,而是采用富NMOS与富PMOS交替级联的方式。10.双极型电路的成因及RTL电路的逻辑功能。答:双极型晶体管有较大的跨导,比MOS电路有更快的开关速度。RTL电路由双极单管反相器并联而成,输出电平VOUT的逻辑是C1和C2的“点与”。RTL是一种或非门逻辑,它的主要问题是噪声容限低。第五章1

8、.数字集成电路分类,差别?答:组合逻辑电路:无反馈,无记忆,输出仅与输入有关。时序逻辑电路:有反馈,有记忆,输出与输入和前级输出有关。2.组合逻辑电路单元设计的基本过程。答:所需功能↓真值表↓逻辑表达式(优化,找到最适合的结构形式,不一定得到最简的逻辑表达式)↓多种形式实际电路↓纸上进行优化(在考虑管子数目和串、并联关系条件下,进行优化)↓版图设计(反复优化,在工艺条件,

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