《数字电子技术》实验手册new

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1、数字电子技术实验手册云南师范大学信息学院2011．816实验一门电路一、实验目的1、验证常用TTL门电路的逻辑功能；2、熟练掌握常用仪器仪表的使用。二、实验内容完成与非门、或非门、与或非门、异或门及非门逻辑功能测试三、实验设备及器件1、数字电路实验台1台2、集成电路芯片74LS00（二输入四与非门）1片74LS02（二输入四或非门）1片74LS51（双2-3输入与或非门）1片74LS86（二输入四异或门）1片74LS04（六非门）1片四、实验步骤1、与非门逻辑功能测试用74LS00二输入四与非门进行实验。(1)按图1

2、接线。+5V接开关V接LEDFAB图1与非门逻辑功能测试电路(2)按表1要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。表1与非门逻辑功能测试表输入输出FAB电压（V）逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）000110112、或非门逻辑功能测试16用74LS02二输入四或非门进行实验。（1）按图2接线。+5V接开关V接LEDFAB图2或非门逻辑功能测试电路（2）按表2要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。表2或非门逻辑功能测试表输入输出FAB电压(V)逻辑状态（灯亮为“1”，

3、灯灭为“0”）000110113、与或非门逻辑功能测试用74LS51双2-3输入与或非门进行实验。+5V接开关V接LEDFABCD(1)按图3接线。图3与或非门逻辑功能测试电路(2)按表3要求通过开关改变输入端A、B、C与D的电平值，将输出端测试结果填入表中。表3与或非门逻辑功能测试表输入输出FABCD电压(V)逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）00001600010011011111114、异或门逻辑功能测试用74LS86二输入四异或门进行实验。+5V接开关V接LEDFAB(1)按图4接线。图4异或门逻辑功能测

4、试电路(2)按表4要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。表4异或门功能测试表输入输出FAB电压(V)逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）00011011+5V接开关V接LEDFA5、非门逻辑功能测试用74LS04六非门进行实验。（1）按图5接线。图5非门逻辑功能测试电路16(1)按表5要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。表5非门逻辑功能测试表输入输出FA电压(V)逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）01五、思考题如何利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电

5、路”、“或非电路”、“异或电路”？试用门电路符号画出电路图。六、实验要求1、独立完成实验。2、按规定的格式完成实验报告书写，要求给出每一个实验电路及测试结果。实验二组合逻辑电路（基于SSI）一、实验目的1、掌握基于TTL门电路的组合逻辑电路的设计方法；2、掌握组合逻辑电路的功能测试方法。二、实验内容一位二进制全加器电路设计及功能测试。三、实验设备及器件1、数字电路实验台1台2、与非门芯片若干四、实验步骤1、运用数字逻辑的基本原理，选用与非门电路设计一个一位二进制全加器。2、参照设计好的电路图，完成电路接线。3、根据设

6、计要求完成电路逻辑功能验证。五、思考题如何利用已设计好的一位二进制全加器电路实现多位二制加法器的设计？六、实验要求1、独立完成实验。2、按规定的格式完成实验报告书写，要求写出设计过程，给出最终的实验电路及测试结果。实验三编码器与译码器一、实验目的1、掌握编码器、译码器的逻辑功能；2、掌握基于MSI组合功能件的组合逻辑电路设计方法。二、实验内容161、优先编码器、3-8译码器及七段数码管译码器功能测试；2、电子呼叫器设计。三、实验设备及器件1、数字电路实验台1台2、集成电路芯片74LS148（8-3优先编码器）1片74

7、LS138（3-8译码器）1片74LS48（七段数码管译码器）1片自选芯片若干四、实验步骤1、完成8-3优先编码器74LS148、3-8译码器74LS138及七段数码管译码器74LS48的逻辑功能测试；2、选用74LS148及74LS48并辅助其它器件设计一个简易电子呼叫器。（1）参照设计好的电路图，完成电路接线；（2）根据设计要求完成电路逻辑功能验证。五、思考题数码管有哪两种分类？使用时有何不同？六、实验要求1、独立完成实验。2、按规定的格式完成实验报告书写，要求写出电路设计思路，给出最终的实验电路及测试结果。实验

8、四加法器、比较器与数据选择器一、实验目的1、掌握多位加法器、多位比较器、数据选择器的逻辑功能；2、掌握基于MSI组合功能件的组合逻辑电路设计方法。二、实验内容1、加法器、比较器、数据选择器功能测试；2、应用电路设计。三、实验设备及器件1、数字电路实验台1台2、集成电路芯片74LS283（四位加法器）1片74LS85（四位比较器）1片74LS15