《数字电子技术》实验手册.doc

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1、数字电子技术实验手册云南师范大学信息学院2011．8实验一门电路一、实验目的1、验证常用TTL门电路的逻辑功能；2、熟练掌握常用仪器仪表的使用。二、实验内容完成与非门、或非门、与或非门、异或门及非门逻辑功能测试三、实验设备及器件1、数字电路实验台1台2、集成电路芯片74LS00（二输入四与非门）1片74LS02（二输入四或非门）1片74LS51（双2-3输入与或非门）1片74LS86（二输入四异或门）1片74LS04（六非门）1片四、实验步骤1、与非门逻辑功能测试用74LS00二输入四与非门进行实验。(1)按图1接线。+5V

2、接开关V接LEDFAB图1与非门逻辑功能测试电路(2)按表1要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。表1与非门逻辑功能测试表输入输出FAB电压（V）逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）000110112、或非门逻辑功能测试用74LS02二输入四或非门进行实验。（1）按图2接线。+5V接开关V接LEDFAB图2或非门逻辑功能测试电路（2）按表2要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。表2或非门逻辑功能测试表输入输出FAB电压(V)逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）00011

3、0113、与或非门逻辑功能测试用74LS51双2-3输入与或非门进行实验。+5V接开关V接LEDFABCD(1)按图3接线。图3与或非门逻辑功能测试电路(2)按表3要求通过开关改变输入端A、B、C与D的电平值，将输出端测试结果填入表中。表3与或非门逻辑功能测试表输入输出FABCD电压(V)逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）000000010011011111114、异或门逻辑功能测试用74LS86二输入四异或门进行实验。+5V接开关V接LEDFAB(1)按图4接线。图4异或门逻辑功能测试电路(2)按表4要求通过开关改变输

4、入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。表4异或门功能测试表输入输出FAB电压(V)逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）00011011+5V接开关V接LEDFA5、非门逻辑功能测试用74LS04六非门进行实验。（1）按图5接线。图5非门逻辑功能测试电路(1)按表5要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。表5非门逻辑功能测试表输入输出FA电压(V)逻辑状态（灯亮为“1”，灯灭为“0”）01五、思考题如何利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”、“或非电路”、“异或电路”？试用门电路符号

5、画出电路图。六、实验要求1、独立完成实验。2、按规定的格式完成实验报告书写，要求给出每一个实验电路及测试结果。实验二组合逻辑电路（基于SSI）一、实验目的1、掌握基于TTL门电路的组合逻辑电路的设计方法；2、掌握组合逻辑电路的功能测试方法。二、实验内容一位二进制全加器电路设计及功能测试。三、实验设备及器件1、数字电路实验台1台2、与非门芯片若干四、实验步骤1、运用数字逻辑的基本原理，选用与非门电路设计一个一位二进制全加器。2、参照设计好的电路图，完成电路接线。3、根据设计要求完成电路逻辑功能验证。五、思考题如何利用已设计好的

6、一位二进制全加器电路实现多位二制加法器的设计？六、实验要求1、独立完成实验。2、按规定的格式完成实验报告书写，要求写出设计过程，给出最终的实验电路及测试结果。实验三编码器与译码器一、实验目的1、掌握编码器、译码器的逻辑功能；2、掌握基于MSI组合功能件的组合逻辑电路设计方法。二、实验内容1、优先编码器、3-8译码器及七段数码管译码器功能测试；2、电子呼叫器设计。三、实验设备及器件1、数字电路实验台1台2、集成电路芯片74LS148（8-3优先编码器）1片74LS138（3-8译码器）1片74LS48（七段数码管译码器）1片自

7、选芯片若干四、实验步骤1、完成8-3优先编码器74LS148、3-8译码器74LS138及七段数码管译码器74LS48的逻辑功能测试；2、选用74LS148及74LS48并辅助其它器件设计一个简易电子呼叫器。（1）参照设计好的电路图，完成电路接线；（2）根据设计要求完成电路逻辑功能验证。五、思考题数码管有哪两种分类？使用时有何不同？六、实验要求1、独立完成实验。2、按规定的格式完成实验报告书写，要求写出电路设计思路，给出最终的实验电路及测试结果。实验四加法器、比较器与数据选择器一、实验目的1、掌握多位加法器、多位比较器、数据

8、选择器的逻辑功能；2、掌握基于MSI组合功能件的组合逻辑电路设计方法。二、实验内容1、加法器、比较器、数据选择器功能测试；2、应用电路设计。三、实验设备及器件1、数字电路实验台1台2、集成电路芯片74LS283（四位加法器）1片74LS85（四位比较器）1片74LS151（8选1数据选择器