数电实验正文

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1、实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验设备与器材1、数电实验箱2、数字万用表3、74LS20，10K电位器三、实验原理1、与非门的逻辑功能2、TTL与非门的主要参数：(1)高，低电平输出电流,(2)高，低电平输入电流,　(3)扇出系数(4)电压传输特性(5)平均传输延迟时间　　74LS20主要电参数表2-1　　　　参数名称和符号规范值　单位　　　　测试条件直流参数导通电源电流＜14mA截止电源电流

2、＜7mA低电平输入电流≤1.4mA高电平输入电流＜50UA＜１mA输出高电平≥3.4Ｖ输出低电平＜0.3Ｖ扇出系数4～8V40交流参数平均传输延迟时间≤20ns四、实验内容在合适的位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块。　4输入与非门74LS20逻辑功能测试电路图1、验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能2、74LS20主要参数的测试表　（1）按真值表逐个测试与非门的逻辑功能，并把结果记录下表A1Ｂ1Ｃ1Ｄ1Ｙ1１１１１０１１１１０１１１１０１１１１０（2）按电路图连线并逐个测试与非门的静态参数ｍAｍAｍAｍAnS注意：正确使用

3、万用表电流档，选择好档位并串接入电路40（3）按电路图连线，测试与非门的传输特性并把结果记录下表Ｖi（V）０.２０.４０.６０.８１１.５２２.５３３.５４Ｖo（V）注意：正确使用万用表电压档，选择好档位并且并接入电路五　实验报告1、记录，整理实验结果，并对结果进行分析。2、画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。六、注意事项1、安全用电。2、实验前，先连线再通电，实验后，先切断电源后再拔线。3、按TTL器件的使用规则正确操作，以防损坏器件。4、正确使用万用表各档位，避免损坏或烧坏。40实验二　ＣＭＯＳ集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实

4、验目的1、掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。2、掌握CMOS集成门电路主要参数的测试方法。二、实验设备与器材1、数电实验箱2、双踪示波器3、数字万用表4、CC4011，CC4001，CC4071，CC4081，100K电位器，1K电阻。三、实验原理1、CMOS集成门电路的主要优点是：（1）功耗低，（2）输入阻抗高，驱动电流小，（3）传输特性好，（4）电源电压范围广，2、CMOS门电路的逻辑功能，3、CMOS与非门的主要参数，4、CMOS门电路的使用规则，(1)Vdd接电源正极，Vss接电源负极，不得接反。(2)所有输入端一律不准悬空。

5、(3)输出端不允许直接与Vdd或Vss连接，否则将导致器件损坏。(4)在装接电路，改变电路连接，或插拔电路时，均应切断电源，严禁带电操作。(5)焊接，测试时应注意：电路应放在导电的容器内，有良好的静电屏蔽；焊接时必须切断电源，电烙铁外壳必须接地良好，或拔下烙铁，用余热焊接；所有的测试仪器必须接地良好。四、实验内容1、CMOS与非门CC4011参数测试，(1)测试CC4011一个门的，，，；注意：正确使用万用表电流档，选择好档位并串接入电路(2)测试CC4011一个门的传输特性；(3)将CC4011三个门串接成振荡器，用示波器观测输入输出波形，并计算出

6、值。2、验证CMOS各门电路的逻辑功能，判断其好坏。与非门逻辑功能图2-140图2-1与非门逻辑功能测试3、观察与非门，与门，或非门对脉冲的控制作用图2-2与非门对脉冲的控制作用五、实验报告1、整理实验结果，用坐标纸画出传输特性曲线。2、根据实验结果，写出各门电路的逻辑表达式，并判断被测电路的功能好坏。六、注意事项1、安全用电。2、实验前，先连线再通电，实验后，先切断电源后再拔线。3.按CMOS器件的使用规则正确操作，以防损坏器件。4、示波器输出端不允许短路。40实验三组合逻辑电路的设计与测试一、实验目的掌握单元电路、组合逻辑电路的设计、及其测试方法

7、二、实验设备与器材全加器、译码器、编码器、数码显示器、选择器、门电路等。三、实验原理使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路。设计组合电路的一般步骤是：(1)根据设计任务的要求，列出真值表。(2)用卡诺图或代数化简法求出最简的逻辑表达式。(3)根据逻辑表达式，画出逻辑图，用标准器件构成电路。(4)最后，用实验来验证设计的正确性。四、实验内容1、设计一个四人无弃权表决电路(多数赞成则提案通过)本设计要求采用四2输入与非门实现。要求按本文所述的设计步骤进行，直到测试电路逻辑功能符合设计要求为止。2、设计一个保险箱的数字代码锁，该锁有规定的地

8、代码A、B、C、D的输入端和一个开箱钥匙孔信号E的输入端，锁的代码由实验者自编(例如1001)。当用钥匙开箱