全面品质管理专注於六个标准差

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1、全面品質管理:專注於六(個)標準差NSYSU_94作業管理-第七章指導教授:盧淵源教授第七組成員:吳瑞春9222404002潘呂美9421408007楊志偉9421408040許勢斌9421408029陳源裕8922404021鍾少櫻9122404012邱盟才9421408047CASESTUDY2B/LWavingMura遞減目錄1.QIT成員介紹2.主題/目標3.現況分析4.原因分析5.真因驗證6.效果評估7.下期計劃1.QIT成員介紹Forreference……………..2.主題及目標主題:B/LWavin

2、gMura降低目標:為達到2003年B/L他責不良率之KPI值(1%以下)WavingMura不良率(Q3)1.22%0.28%.3.現況分析3-1.B/LWavingMura月推移3-2.WavingMura主要機種層別3-3.WavingMura不良之主要B/L廠商4-1.HSD`sB/LWavingMura發生原因B/LWavingMuraFilm材或塑框尺寸超出規格導致相互干涉DBEF-M之特殊物性(變型量/熱膨脹係數)Cell與Film材間gap太大Film與塑框間的距離太小導致干涉4.原因分析要因分析

3、圖5-1.塑框(Frame)與Film材尺寸調查表(Aging前)5.真因驗證結論:B/L原材的Frame與Film材尺寸量測皆在規格內.5-2.發現WavingMura不良站別LCM後工程LCM前工程AgingWavingMura不良(Yes)WavingMura不良(No)5-2.DBEF-M&D-BEF之熱膨脹係數調查結論:DBEF-M與DBEF雖有相近的熱膨脹係數,但實際上觀察發現由於DBEF-M可靠度不佳,在高溫高濕下容易產生Waving變型(內應力釋放).*各機種之規格表結論:150SX84&150S

4、XA1使用Film材皆為DBEF-M,150PX14使用Film材為一般DBEF.5-3.A1光電結論:1.對策品300pcs投入驗證無wavingmura不良.2.150SX84不良率(Q3)0.79%0.13%(10+11月).150SXA1不良率(Q3)0.59%0.84%(10+11月).5-4.A2公司結論:1.對策品300pcs投入驗證無wavingmura不良.2.150SX84不良率(Q3)0.09%0.04%(10+11月).5-5.A3光電結論:1.對策(a)&(b)有wavingmura不良

5、品,對策(c)投入300pcs驗證無wavingmura不良.2.150SX84不良率(Q3)0.25%0.11%(10+11月).150SXA1不良率(Q3)0.65%0.08%(10+11月).5-6.A4光電結論:1.對策品20pcs投入驗證無wavingmura不良,預定2004/1再投300pcs.2.150PX14不良率(Q3)2.01%2.24%(10+11月).6.效果評估結論:1.全機種(Q3)1.22%0.55%(10+11月)2.150SX84/SXA1/PX14(Q3)0.86%0.41%

6、(10+11月)6-1.整體評估結論:150SX841.43%(Q3)0.26%(10+11月)150SXA11.25%(Q3)0.94%(10+11月)150PX142.01%(Q3)2.24%(10+11月)6-2.主要各機種效果評估7.下期計劃Thankyousomuchforyourlistening!