钛酸铋基铁电薄膜的取向控制与性能研究

钛酸铋基铁电薄膜的取向控制与性能研究

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时间:2019-02-06

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1、济南大学硕}j学位论文摘要钛酸铋(Bi4Ti3012,BTO)作为一种典型的铋系层状钙钛矿结构的铁电材料,具有优良的压电、铁电、热释电和电光等性能,在最近十年里成为广泛研究的热点之一。Bi4Ti3012的晶体结构是各向异性的赝立方结构,它的自发极化沿a轴和c轴相差很大,分别是509C/cm2和49C/cm2。此外,掺杂并不改变BTO薄膜的主极轴方向,因此制备a轴取向择优的钛酸铋基铁电薄膜是非常有意义的。最近人们研究发现,用三价稀土离子替代Bi4Ti3012中的A位可以提高其电学性能。替代后的薄膜具有更大的剩余极化,这使得Bi4Ti30

2、12更适合于在铁电存储器中的应用。然而目前对于A位掺杂的BTO薄膜掺量主要集中在0.85左右,并且其退火温度高达7500C,这样一个高温与集成电路工艺不匹配。从实际应用的角度来说,钛酸铋基铁电薄膜的沉积温度应该控制在6500C以下。而日本人TakayukiWatanabe等报道掺杂钛酸铋在掺量为0.26—0.35之间的剩余极化最大。考虑到降低薄膜的制备温度,并且得到较大的剩余极化,本论文利用溶胶.凝胶法在不同衬底上制备了Bi3.7Ndo.3Ti3012(BNT0.3)铁电薄膜,系统的研究了铋过量,单层厚度,衬底,退火温度等因素对薄膜取

3、向的影响。通过对BNT0.3薄膜X.ray衍射图谱,原子力显微图谱,扫描电镜图谱和电学性能测试的研究,得出了以下结论:1、对BNT0-3薄膜工艺的摸索、生长模式及形貌的分析,我们得出如下结论:(1)铋过量10%的前驱体溶液更易于制备a轴取向的BNT0.3薄膜;(2)旋涂过程中,薄膜单层厚度过厚或过薄都不利用BNT0.3薄膜a轴取向的生长;(3)ITO/glass氧化物衬底比Pt/Ti02/Si02/Si衬底更利于BNT0.3薄膜a轴取向的生长;(4)5500C和6000C均可以得到高度a轴取向择优的BNT0.3薄膜;(5)对于铋系层状

4、钙钛矿铁电薄膜的生长模式概括为:由于晶粒沿口(6)轴方向的生长速度比沿C轴方向要快得多,因此当采用层层退火的工艺条件时,口(6)轴取向的晶粒将会逐渐覆盖c轴取向晶粒的生长,从而得N(100)择优取向的薄膜。也就是说,a轴取向择优是铋系层状钙钛矿铁电薄膜的一种本征生长模式;(6)5500C退火条件下,制备了不同厚度的口轴取向择优的BNT0.3薄膜,薄膜晶粒较小,表面平整;(7)通过薄膜断面SEM图,可以清晰的分辨出BNT0.3薄膜层、ITO氧化物层和玻璃层。此外,薄膜表现出了柱状生长模式。III钛酸铋基铁电薄膜的取向控制弓忭能研究2、通

5、过对BNT0.3薄膜晶体结构及电学性能的研究,结果表明:(1)BNT0.3薄膜(200)衍射峰的相对强度随薄膜厚度的增加而增加;(2)BNT0.3薄膜的剩余极化和矫顽场均随薄膜厚度的增加而减小,这是因为薄膜存在部分老化;(3)6500C退火条件下制各的BNT0.3薄膜尽管其(200)衍射峰的相对强度不是最高,但是其剩余极化最大,达到38.2taC/cm2,这比目前报道的BNT0.85薄膜最大的剩余极化还大35%:(4)压电测试结果表明薄膜均可以均匀极化,且其压电信号随薄膜退火温度的升高而增强:(5)薄膜表现出了良好的抗疲劳性能和电荷保

6、持力。综上所述,我们的工作对钛酸铋基铁电薄膜的应用研究具有重要的意义。关键词:铁电薄膜;钛酸铋;溶胶.凝胶;晶体结构;电滞回线;压电性能IV济南大学硕}。学位论文ABSTRACTAsatypicalbismuth—layered-perovskitematerial,duetotheexcellentpiezoelectric,ferroelectricandphotoelectricproperties,Bi4Ti3012(BTO)isapromisingmaterialfortheapplicationsinthedynamicr

7、andomaccessmemory(DRAM),ferroelectricrandomaccessmemory(FeRAM),ferroelectricfieldeffecttransistor(FEFET),SOithasattractedlotsofattentionduringthepastdecade.ItiswellknownthatBi4Ti3012hasallanisotropicpseudo—orthorhombicstructure,spacegroupB2cb,withthelatticeparametersofa

8、=O.541,b=0.544,andc=3.28011111.ThespontaneouspolarizationsofBTOareabout50and4}tC/cm2alongits口andcaxes,respecti

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