射频搭接阻抗测试方法的修正

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1、"$$/年第"$卷第&期!电子机械工程!!!!!!!!!!!"$$/JN1HJ"$)1J&./)’$%,-0)’1&23’&/.2432))%324*.!!!射频搭接阻抗测试方法的修正周忠元，蒋全兴（东南大学电磁兼容研究室，!江苏南京"#$$%&）摘!要：对搭接条射频阻抗的扫频’(形分流器插入损耗法测试方法进行了理论分析，提出了抵消搭接条和测试装置之间分布电感的测试方案。经过理论分析和试验验证，证明对射频搭接阻抗测试方法的修正是有效的，能提高测试数据的准确性。关键词：搭接条；射频阻抗；测试；修正中图

2、分类号：()$*!!文献标识码：+!!文章编号：#$$,-.*$$（"$$/）$&-$$*.-$"0123435673181479:(:;70:791241<=>+18238?@AB:2685:!"#$!%&’()*+,’，-./012+,’)34’(（!"#$%&’(%)’(*，+’,)-.%/)0123.(/2)*，!4%15216"#$$%&，#-21%）!"#$%&’$：(9:7:;7A:791214=>3AB:2685:14C18238?;7<6BC6;:21879:;D::B4<:EF:

3、85G’(7GB:38;:<7318H1;;B<3853BH:3;686HGI:2J(9:7:;7A:79123;A12343:2CG5685:H38?79:23;7<3CF7:2382F57685:C:7D::879:C18238?;7<6BF82:<7:;768279:C1771ABH68:J(9:7:;7<:;FH73;K:<343:2CG56H5FH67:2<:;FH7;J@73;B<1K:2796779:A123435673183;K6H3268279:655F<65G147:;7<:;F

4、H73;385<:6;:2J()*+,%-#：C18238?;7<6B；=>3AB:2685:；7:;7；A12343567318;$!引!言搭接条的射频阻抗严重影响电子设备的L0M性能和人员安全，为了防止在某些频率点上搭接性能降级或失效，需要在一定频率范围内对搭接条的射频阻抗进行准确测量。目前采用扫频’(形分流器插入损图#!搭接阻抗测试装置的等效电路图耗法可以测量射频搭接阻抗。但随着测量频率的提高，测试装置和搭接条之间的分布参数对测试结果有很大影响。这里提出一种抵消分布电感的测试方案，并将理论分析

5、和实际测试相对照，对修正后的测试方法进行了验证。图"!搭接阻抗测量装置的实物照片#!射频搭接阻抗的测量原理从图"可以看出，在进行搭接条射频搭接阻抗测扫频’(形分流器插入损耗法的测量原理是：在保量时，搭接条和测量装置的底板会构成一个电感，搭接证整个测试系统阻抗匹配前提下，输入端电压7#固定条输入段和测量装置的底板之间还存在分布电容。测不变；当8形衰减器旁路电阻远远小于串联支路的电得的阻抗除了含有搭接条自身的阻抗外，还包括搭接阻（即9)":+）时，对应每一个确定的9)值，电流;保条和测量装置之间的分布电

6、感和分布电容，尤其是分持不变。在旁路电阻9)变化时，输出端电压7"也相布电感对测试结果的影响特别显著。为了准确评价搭应发生变化（参见图#），通过测量7"可以得到射频搭接条本身的搭接阻抗，必须消除分布电感带来的系统［#］接阻抗9)。图"是搭接阻抗测量装置的实物照片。误差。万方数据!收稿日期："$$/-#$-".#4电子机械工程第!%卷式中：!"为搭接条的自感，!,；%、(和)分别是搭接条!"射频搭接阻抗测试方法的修正的长度、宽度和厚度，12。将%3$!12，(3!(’12和)3%(%)12带入式为了消

7、除分布电感的影响，在搭接条的上方加一（$），得!"3%(%444!,。块和底板相同大小的盖板，并且使其与底板相对于中在进行搭接条的射频阻抗测量时，搭接条的自感间的搭接条呈对称状态放置，使上下铜板与中间搭接和搭接系统的分布电容构成一个并联谐振回路，根据片间的电感相互抵消，如图#所示。此外，进行搭接阻测得的谐振频率可计算搭接系统的分布电容。抗测量时，测量结果有明显的谐振现象，计算出射频搭接条的自感分量后，根据谐振频率就可以求得对应的系统谐振时，!*!"3$+!*,，因此：分布电容。采用一个$!%!（长）

8、&!’!（宽）&%()$$,##（!）!!!（厚）的扁平铜带搭接条进行理论分析和试验验证。!*!"（!"-*）’!"式中：-*为谐振频率，,-；,为测试系统的分布电容，5。将!"3%(%444!,，-*3!#*+,-带入式（!），得：,34()*’65该电容主要是测试系统所固有，应予以注意。图#"分布电感的抵消方案搭接条自感和搭接系统分布电容所构成并联谐振首先，测试装置不加上盖板，即在未消除分布电感回路的阻抗为：的情况下测试搭接片的射频阻抗，然后装好上盖板，在!"-!