宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析

宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析

ID:36747357

大小:1.84 MB

页数:59页

时间:2019-05-14

宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析_第1页
宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析_第2页
宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析_第3页
宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析_第4页
宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析_第5页
资源描述:

《宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、中国科学技术大学硕士学位论文宽禁带半导体SiC和ZnO紫外探测器的研究与分析姓名:梁锦申请学位级别:硕士专业:微电子学与固体电子学指导教师:谢家纯200505012005年5月中国科学技术大学硕士论文摘要本论文先后综述了宽禁带半导体sic年uZn0的性质、材料制备以及器件方面的研究。介绍了我们采用宽禁带半导体n一4H—S】c.fu会属Au研制出的sic肖特基紫外光电探测器。该器件高温下有较低的反向漏电流,肛I柚开启电压下降速度为一1.2mV/℃;波长响应范围为200~400nm,在23。C$n260℃时,光谱响应峰值分别出现在320nm和330nm,每100。O波长红移约4nm;

2、响应灵敏度随温度升高而降低,平均每100℃降低2倍,但仍保持良好的紫外响应特性。并对基于si衬底的Au—ZnO—AuUV增强光电探测器进行了测量分析,器件在200nm至lJ400nm的之间有灵敏的光电响应,在370nm附近时有一个响应的峰值停留,同时保留了Si在400nm以上波长的光谱响应:测试得到的IV特性符合肖特基接触的反向特性曲线;电容在OV附近具有最大值,随着正反向电压增大电容值呈对称性快速减小。研究表明,该结构的uV增强光电探测器可采用微电子Si平面工艺和外延薄膜工艺相结合,具有广泛的生产和应用前景。另外还对我们制备的ZnO/SiC/Si器件进行了测试分析并讨论了制作紫

3、外探测器件可行性。2005年5月中国科学技术大学五亘上论文AbstractThisthesissuccessivelydescribesthepropertiesofSiCandZnO,theirmaterialpreparationsandtheresearchoftheirdevices.ItintroducesSiCSchottkyUltravioletPhotodetectorwhichhasbeenfabricatedwithn一4H-SiCandAubyUS.Themeasurementresultsshowthatthedevicehaslowerleakagecu

4、rrentathi曲temperatures.Thedescendentspeedoftheforwardtum—onvoltageis一1.2mV/。C.Theresponsewavelengthrangeisfrom200nmto400nm,thepeakvalueofthespectrumresponseappearsin320nmat234Cand330nmat260。Crespectively,andthewavelengthhasredshiftabout4rimevery100"(2;Thesensitivityofresponsereducesastemperat

5、urerises,anditisreducedby2timesevery100"(2orlaverage,butitalsohasgoodUVresponsecharact甜sfics.TheUVenhancedphotodetector谢tlltheconstructionofAu-ZnO—AubasedOnSisubstratehasbeenmeasuredandanalyzed.Theultravioletresponsefrom200nmto400nmissensitive;atabout370nmthepeakresponsehasbeenobserved.Theres

6、ponserangefrom400to1000nrnoftraditionalSidetectorshasalSObeenreserved.TheI-VcharacteristicsofthedevicesatisfyreverseSchottkycontactcharacteristics.Thecapacitanceofthedeviceismaximumatzerobiasedandthecapacitancebecamesmallerwiththebiasedvoltageincrement.TheexperimentsshowthatAu—ZnO-AuUVenhance

7、dphotodetectorsCanbemadebymicroelectronicsplanetechnologyaswellasMOCVDmethod,whichhavegreatappliedpotential.Inaddition,wehavemeasuredandanalyzedtheZnO/SiC/SidevicefabricatedbyUS,andhavediscussedthepossibilityofmakingitakindofUltravioletPhotod

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。