全定制与半定制相结合的设计流程

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1、全定制与半定制相结合的设计流程----殷富有一、实验目的完成存储器电路带寄生参数的电路网表（SPF文件）提取，完成存储器SRAM的电路级功能验证，完成几何视图（LEF视图）和时序视图（LIB视图）的提取；熟悉使用hercules、StarRCXT、nc_verilog、nanosim、abstract等工具软件。二、实验过程2.1用hercules、StarRCXT完成spf文件的提取1)打开命令行终端；2)在终端中进入到“/home/vlsi/SRAM/drc_lvs”目录3)修改好smic.lvs文件中的相应语句。工艺厂家提供lvs文件名为

2、smic.lvs，gds中的顶层模块名为SRAM,其中需要进行如下配置。(a)STARRCXT变量VARIABLEstringSTARRCXT="TRUE";//导出数据库时使用；VARIABLEstringSTARRCXT="FALSE";//不导出数据库时使用；(b)Header字段HEADER{FORMAT=GDSIIINLIB=../cdl_gds/SRAM.gds//指向你的gds文件OUTLIB=err.gdsBLOCK=SRAM//gds中模块的顶层单元名OUTPUT_FORMAT=GDSIIOUTPUT_BLOCK=errSCH

3、EMATIC=../cdl_gds/SRAM.cdl//指向你的cdl文件layout_path=./SCHEMATIC_FORMAT=SPICE}/*ENDOFHEAD*/(c)端口标签识别规则TEXT_POLYGONM1.TEXT{//图层为M1.TEXT的标签识别为端口SIZE=0.01CELL_LIST={SRAM}//在SRAM单元中的标签识别为端口TEXT_LIST={*}}temp=m1_pin(d)导出WRITE_EXTRACT_VIEW{LIBRARY_NAME=SRAMLIBRARY_PATH=.}4)在终端中运行“herc

4、ulessmic.lvs”命令，完毕后查看当前路径下是否生成了SRAM目录；图(1)生成的SRAM文件夹5)在终端中进入到“/home/vlsi/SRAM/spf_ext”目录6)修改好star_cmd中的相应语句(a)BLOCK字段BLOCK:SRAM//gds中顶层模块名(b)MILKYWAY_DATABASEMILKYWAY_DATABASE:../drc_lvs/SRAM//生成的Milkway数据库文件夹的路径(c)指定工艺文件TCAD_GRD_FILE:./SmicSP14P_018_log_p1mt6_tran_typ_1833.

5、nxtgrd//厂家给出的工艺文件MAPPING_FILE:./SmicSP14P_018_log_p1mt6_tran_1833.map//厂家给出的工艺文件（d）输出文件指定NETLIST_FILE:SRAM.spf//你所希望的spf文件名（e）提取参数类型指定EXTRACTION:R//提取寄生电阻EXTRACTION:C//提取寄生电容EXTRACTION:RC//提取寄生电阻和电容7)在终端中运行“StarXtract–cleanstar_cmd”命令，运行完毕后查看当前路径下生成的SRAM.spf文件；图(2)生成的spf文件2.

6、2用ncverilog和nanosim完成电路级功能验证1)打开命令行终端2)在终端中分别输入cdSRAM和new_verilogv_sim创建v_sim文件夹，将SRAM.v和TESTER.v复制进改文件夹下，并修改好相应配置3)在终端中运行“run“命令，打开ncverlog的模拟界面；图(3)NC_verilog仿真波形测试激励先对SRAM所有地址写数据，然后再把所有地址对应的数据读出来，从波形文件看结果是对的。4)在ncverilog界面中运行完模拟，查看当前路径下是否生成了SRAM.vcd文件；图(4)生成的SRAM.vcd文件5)在

7、终端中运行“run_vec“命令，查看当前路径下是否生成了SRAM.vec文件；图(5)生成的SRAM.vec文件6)在终端中进入到”/home/vlsi/SRAM/spf_sim”目录；7)在终端中运行“run_nanosim“命令，执行完毕后查看sim.err文件，看是否有错误被检测到；图(6)生成的sim.fsdb文件8)在终端中运行“cscope“命令，打开cscope波形查看工具；9)在cscope的file->open->Plotfile菜单，打开sim.fsdb波形文件，查看信号与ncverilog的模拟结果一致。2.3用abst

8、ract完成几何视图（LEF）的提取1)打开命令行终端2)在终端中进入到”/home/vlsi/SRAM/lef_ext”目录3)启动icfb，将/h