铜带电导率测量

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1、铜及铜合金带材导电率的涡流测试方法李湘海（洛阳铜加工集团有限责任公司，洛阳471039）摘要：采用涡流法选择不同的测试频率，分别对不同厚度不同叠加层的几种铜带材进行了导电率测试试验，并与双电桥法进行了对比。结果表明，只要测试频率和叠加层数合适，用涡流法完全适合对铜及铜合金带材进行导电率测量，非常适用于规模化生产铜及铜合金带材导电率快速检验的需要。关键词：铜及铜合金；涡流法；导电率；叠加；快速检验中图分类号：TB302.1文献标识码：A文章编号：1001-4012（2005）08-0407-03THEMETHODFORELECTRICALCONDUCTIVITYMEASUREMENTOF

2、COPPERANDCOPPERALLOYSTRIPBYUSEOFEDDYCURRENTLIXiang-hai（LuoYangCopper（Group）Co.Ltd.，Luoyang471039，China）Abstract：Afterchoosingdifferenttestfrequrency，makeantestexperimentbyuseoftheeddycurrentmethodforthestripofcopperandcopperalloyswhichweredifferentthicknessandfoldinglayer，andcompareitwiththemeth

3、odofKelvinelectricitybridge.Theresultprovedthatifonlythetestfrequencyisfitforthenumberoffoldinglayer，theeddycurrentmethodisverysuitableforthetestofelectricalconductivityforthestripofcopperandcopperalloys.Themethodfullysuppliesthedemandsoffastexaminationfortheelectricalconductivityofthestripofcop

4、perandcopperandcopperalloysbyscale-producing.Keywords：Copperandcopperalloys；Eddycurrentmethod；Electricalconductivity；Fold；Fastexamination大。笔者通过对不同厚度的几种铜带材进行叠加，1引言然后进行涡流法导电率测试试验，并与双电桥法进铜及铜合金产品具有优良的导电性能，广泛应行了对比，实验表明只要选择适当的叠加层和测试用于国民经济的各个领域。导电率是该材料最主要频率，完全可以采用涡流法对铜及铜合金带材进行的物理性能指标之一。测量导电率通常采用双电桥导电率测

5、量，特别适用于规模化生产铜及铜合金带［1，2］法，其优点是测量精度高，但由于该方法需要测材导电率的快速测量。量试样长度、厚度和读数电阻等诸多参数，测量周期2基本原理长，而且对环境温度要求苛刻，不适用于大规模工业化生产的需要。笔者采用涡流法对铜及铜合金进行当载有交变电流的线圈（也称探头）接近导体了大量的导电率测量试验。结果表明，对于厚度表面时，由于线圈交变磁场的作用在导体的表面及>0.3mm的铜材可以直接在材料上进行测量［3］，对近表面感应出旋涡状电流称为涡流，感生涡流的磁于厚度<0.3mm的铜带材，如果直接在试样上进行场反作用于线圈，这种反作用的大小与导体表面及测量，由于其厚度小于有效

6、趋肤深度，测量误差很近表面的导电率有关，通过涡流导电仪可直接测量非磁性导体的导电率。收稿日期：2005-01-17由变化磁场而感生的涡流主要集中在导体表面作者简介：李湘海（1965-），男，高级工程师，学士。的现象称为趋肤效应，其涡流密度随着深度按指数·407·李湘海：铜及铜合金带材导电率的涡流测试方法规律衰减，当涡流密度为表面的1/e时的深度称为趋肤深度。对于非铁磁性材料，其趋肤深度可用公3试验条件与结果式表示为：试验仪器采用美国产的涡流综合测试仪，型号pδ=50（1）为D2.068，仪器带有四种测试频率，分别为60，120，ヘf240和480kHz。式中：δ———趋肤深度，mmp—

7、——材料的电阻率，µΩ·cm试验材料采用常用的T2，C10200和TFe0.1三种导电用铜进行试验，三种材料的状态均为退火态，每f———测量频率，Hz种材料都取常用的三种厚度0.25mm，0.20mm和0.测量导电率用的探头为表面式线圈，在试件内感10mm进行叠加；另取同状态厚度为0.5mm的试样应出的涡流流动路径平行于试样表面，见图1。当试直接测量，并与双电桥法进行比较。样内部缺陷平行于探头线圈（如层状缺陷）时，缺陷并对上述材料进行了涡流法和