微电子工艺课程总结

微电子工艺课程总结

ID:40203504

大小:196.00 KB

页数:40页

时间:2019-07-25

微电子工艺课程总结_第1页
微电子工艺课程总结_第2页
微电子工艺课程总结_第3页
微电子工艺课程总结_第4页
微电子工艺课程总结_第5页
资源描述:

《微电子工艺课程总结》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库

1、课程总结西安电子科技大学微电子学院戴显英2005.6.27微电子工艺基础绪论(了解)一、微电子技术发展历史二、微电子技术发展的规律与 趋势三、器件与集成电路制造工艺 简介1、硅外延平面晶体管制造工艺(了解)(3DK3—NPN型开关管)2、PN结隔离双极型集成电路制造工艺(了解)3、集成电路的特有工艺(熟悉)①隔离扩散②埋层扩散第一章衬底制备§1.1衬底材料(了解)一、衬底材料的类型1.元素半导体Si、Ge、C(金刚石)2.化合物半导体GaAs、SiGe、SiC、GaN、ZnO、HgCdTe3.绝缘体

2、蓝宝石表1周期表中用作半导体的元素Ⅱ族Ⅲ族Ⅳ族Ⅴ族Ⅵ族第2周期BCN第3周期AlSiPS第4周期ZnGaGeAsSe第5周期CdInSnSbTe第6周期HgPb二、对衬底材料的要求(了解)§1.2单晶的制备(了解)一、直拉法(CZ法)二、悬浮区熔法(float-zone,FZ法)三、水平区熔法(布里吉曼法) ---GaAs单晶§1.3衬底制备一、晶体定向(了解)1.光图像定向法(表1.11)2.X射线衍射法二、晶面标识(熟悉)1.主参考面(主定位面,主标志面)①作为选定芯片图形与晶体取向关系的参考;

3、②作为硅片(晶锭)机械加工定位的参考面;③作为硅片装架的接触位置,可减少硅片损耗;2.次参考面(次定位面,次标志面)识别晶向和导电类型三、晶片加工(了解)切片、磨片、抛光第二章掺杂技术(熟悉、掌握)§1扩散一、扩散原理(熟悉)本质上:扩散是微观粒子做无规则热运动的统计结果。方向上:高浓度向低浓度扩散。1.菲克第一定律J=-D·▽N2.扩散模型(掌握)①间隙式扩散②替位(代位)式扩散3.扩散系数(熟悉)D=D0exp(-Ea/kT)D0—表观扩散系数,Ea—激活能;D是描述粒子扩散快慢的物理量,是微观

4、扩散的宏观描述。3.菲克第二定律—扩散方程(掌握)二、扩散杂质的浓度分布1.恒定表面源扩散/恒定表面浓度扩散(掌握)定义(特征):在扩散过程中,Si片表面的杂质浓度始终不变。例如:预淀积,箱法扩散余误差分布杂质总量结深2.有限表面源扩散/恒定杂质总量扩散(掌握)定义(特点):在扩散过程中,杂质源限定于扩散前淀积在晶片表面极薄层内的杂质总量Q,没有补充,也不会减少。例如:再分布。--高斯分布结深3.两步扩散工艺(熟悉)第一步:较低温度下,预淀积;第二步:较高温度下,再分布;两步法的浓度分布:①预淀积(

5、恒定源扩散)――余误差分布;目的:准确控制表面杂质总量Q。②再分布(有限源扩散)―高斯分布目的:达到所需的Ns和Xj4.实际杂质分布(了解)5.扩散层质量参数(了解)①结深的测量(熟悉)a.磨角染色法:b.滚槽染色法:②方块电阻R□(RS)③表面浓度Ns--查图法(了解)④次表面浓度和次表面薄层电阻(了解)⑤击穿特性(了解)三.扩散方法(了解)§2-2离子注入特点(熟悉)①注入温度低②掺杂数目完全受控③无污染④横向扩散小⑤不受固溶度限制⑥注入深度随离子能量的增加而增加缺点:①损伤(缺陷)较多:必须退

6、火。②成本高一,离子注入设备(了解)二.能量损失模型(掌握)1.核阻挡模型2.电子阻挡模型三.注入深度(熟悉)1.总射程R①E0Ene,即以电子阻挡为主,令Sn(E)=0,则R≈k2E01/22.投影射程XP3.平均投影射程RP4.标准偏差(投影偏差)△RP—反映了RP的分散程度(分散宽度)。5.R,RP,△RP间的近似关系四.浓度分布1.高斯分布(了解)2.横向效应(了解)3.沟道效应(熟悉)减小沟道效应的途径①注入方向偏离晶体的主

7、轴方向;②提高温度;③增大剂量;④淀积非晶表面层(SiO2);⑤在表面制造损伤层。五.注入损伤与退火(了解)第三章薄膜技术外延及特点(熟悉)§3.1硅外延薄膜制备原理外延的分类(了解)一、外延生长动力学原理外延生长的步骤(熟悉)①传输(扩散)②吸附③化学反应④脱吸⑤逸出⑥加接速度附面层(熟悉);质量附面层δN(了解);生长速率(熟悉):①当hG»ks,是表面反应控制。②当ks»hG,是质量转移控制。二、外延掺杂及杂质再分布1.掺杂原理(了解)2.影响掺杂浓度的因素(了解)3.杂质再分布(熟悉)①衬底

8、杂质的再分布;②外延掺入杂质的再分布;③总的杂质分布(图3-24):N(x,t)=N1(x,t)±N2(x,t)“+”:同一导电类型;“-”:相反导电类型;三、自掺杂(非故意掺杂)(了解)四、缺陷及检测1.缺陷(了解)①位错;②层错(堆垛层错)。2.埋层的漂移与畸变(熟悉)§3.2其他外延技术(不考)§3.3SiO2薄膜(重点)SiO2薄膜在工艺中的作用(掌握)①杂质扩散的掩蔽膜;②器件薄膜的钝化、保护膜;③IC隔离介质和绝缘介质;④MOS电容介质;⑤MOSFET的绝

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。