瓦检仪的使用和维护

瓦检仪的使用和维护

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1、1光学瓦斯检定器的使用方法气密性检查首先检查吸气球是否漏气:用手捏扁气球,另一手掐住胶管,然后放松气球,若气球一分钟内不胀起,则表明不漏气;然后,检查仪器气室是否漏气:将吸气胶皮管同检定器吸气孔连接,堵住进气孔,捏扁气球,松手后球一分钟内不胀起;最后,检查气路是否畅通:即放开进气孔,捏放吸气球,以气球能瘪起自如为好清洗气室使用前,必须用新鲜空气冲洗瓦斯室。(1)新鲜空气:空气未受污染的巷道,一般在井底车场或矿井总进风巷。(2)距被测地点温差不超过10℃:这种仪器对温度的变化比较敏感,温度变化,会引起零的条纹移动(现场称为“跑正”或“跑

2、负”)干涉条纹的零位调整(1)清洗气室。(2)转动测微手轮,使微动刻度盘归零。(3)转动粗动手轮,使黑色的基线归零,并记住所对的这条黑线。旋上护盖,此后护盖不得再旋动。以免零位变动。甲烷浓度的测定测定时,将联接瓦斯入口的橡皮管伸至测定地点,然后慢慢握压吸气球5~6次,挤压次数主要由橡皮管的长度决定,橡皮管越长,挤压次数越多,以仪器的瓦斯室中气体完全被置换为目的。待测气体进入瓦斯室,由目镜中观察干涉条纹是否已移动,先读出干涉条纹在分划板上移动的条数。例如条纹移动到3~4%之间.然后转动测徽手轮,把对零位时所选用的那条条纹移动到3%的刻度

3、线上,然后按下按钮目镜开关,读出刻度盘上的读数,如果在0.24~0.26%之间,可读为0.25%,这时所测定的结果为3%+0.25%=3.25%。测定后,应把刻度盘退转到零位2、二氧化碳浓度测定在二氧化碳含量大的矿井里(没有甲烷),用该仪器测定二氧化碳浓度时,吸收剂不用钠石灰,只用硅胶或氯化钙吸收水蒸汽。其实际浓度应为所读得的数据乘以0.955。这是由于仪器出厂时的校正结果适合于甲烷含量的测定,因此用于测定其它气体时,仪器所示读数并不是被测气体的实际浓度,必须进行换算。公式二氧化碳含量=(混合气体浓度-瓦斯浓度)×0.955a、二氧化

4、碳浓度是算出的。b、甩掉钠石灰附管,测定地点一般在巷道的中下部,用检查瓦斯的方法读出混合气体的浓度。c、混合气体浓度和瓦斯浓度需在同一地点同一位置检查。d、用上公式计算出二氧化碳的浓度。3光干涉瓦斯测定器一般故障及其处理1、干涉条纹的寻找与校正。寻找校正干涉条纹,在维修装校中较困难,其一般方法如下:引起干涉条纹消失的现象,一般多是由于光源系统的故障,如灯泡烧坏,线路损坏,灯泡位置移动,光屏移动和内部各光学零件变位等原因。因此寻找条纹之前,先检查下列部分:检查开关和线路是否正常;检查灯泡是否良好,其位置是否适当。当各部分检查完好后,将光

5、源接入电路中,使灯丝位置与光缆平等,而且要使灯泡发出的光恰好通过光缆,投射到平面镜上。此时用一张宽10mm,长50mm的洁白硬纸条放在平面镜前,对正通过窄缝投射来的光线,仔细检查这一列光线是否正对在平面镜面的右边。光的位置不能高于或低于镜面,否则应调整灯泡。然后把白纸条垂直放在气室右侧孔位置,检查从平面镜反射出来的光线是否刚好通过气室右侧孔,如果有偏斜可稍调节平面镜。再将白纸条移到折光棱镜前,检查光线是否正直。如果不正直,可移动光缆和灯泡的位置。当光斑符合要求后,再将白纸条放在测微玻璃和目镜筒的中间。检查光线通过平面镜、反射棱镜、物镜

6、等后是否投射到目镜视场中央。如果偏高或偏低,可以调节粗动螺杆;若光线向左右偏时,可左右拨动反射棱镜。然后将所找到的光束通过目镜来寻找条纹,如果还发现光束向上、下、左偏时,可以重复前面的方法调节之。按上述方法找到了干涉条纹,但却模糊不清,可能是仪器上的光学零件被灰尘沾污或物镜的位置不对。因此调整条纹清晰度时,首先应检查光学零件是否清洁,否则必须擦洗。如果光学零件擦洗后仍发现条纹不清晰,可沿着光轴前后移动物镜,必要时也可调整其他光学零件和灯泡来达到最清晰的干涉条纹。光学零件擦洗方法一般是用小棒卷脱脂棉,浸少许酒精,擦试玻璃表面,再用洁白细

7、软的净布或绸布擦亮,如遇有油脂,还可以用碳酸钙、乙醚作同样的擦洗。擦洗时应注意不要使酒精等浸入平面镜的镀膜面、物镜的胶合面和分划板的涂漆面,以免损坏。为了保证仪器测量准确度,必须校正条纹的宽度。一般是采用垫锡箔于折光棱镜及平面镜底面或修挫该底面(锡箔层数不该超过两层,修锉的底面应保证平整、无毛刺)。后一方法能保证条纹宽度在较长时间内稳定,是比较好的。仪器的校正方法将在下面作专节介绍。干涉条纹移动,可用调整灯泡位置的方法,使它移向视场中央。此方法不能解决时,可以左右移动反射棱镜或稍微调整平面镜来修正。但当调整平面镜时应注意最后的条纹宽度

8、不发生变化。2、读数不准确。其原因可能有以下几个:第一,压测微玻璃的弹簧片失灵,使测微玻璃转动时与刻度盘的转动不一致,使读数不真实。这时可把弹簧片用手略向外弯开,增加其弹力,或更换弹簧片来解决。第二,测微玻璃座底面上和测

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