JISK01022010工場排水試験方法.pdf

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1、K0102：2010まえがきこの追補は，工業標準化法に基づき，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正したもので，これによって，JISK0102:2008は改正され，一部が置き換えられた。（1）日本工業規格JISK0102：2010工場排水試験方法（追補1）Testingmethodsforindustrialwastewater（Amendment1）JISK0102:2008を，次のように改正する。20.［二クロム酸カリウムによる酸素消費量（CODCr）］のa)（試薬）の3)［硫酸水銀（

2、II）］の“JISK8980に規定するもの。”を削除する。30.（界面活性剤）の30.1.3（溶媒抽出-フレーム原子吸光法）のb)（器具及び装置）の2)（フレーム原子吸光分析装置）を，次の文に置き換える。2)フレーム原子吸光分析装置JISK0121に規定するフレーム原子吸光分析装置で，測定対象元素用の光源を備えたもの。48.［ナトリウム（Na）］の48.2（フレーム原子吸光法）のb)（装置）の1)（フレーム原子吸光分析装置）を，次の文に置き換える。1)フレーム原子吸光分析装置JISK0121に規定する

3、フレーム原子吸光分析装置で，測定対象元素用の光源を備えたもの。50.［カルシウム（Ca）］の50.2（フレーム原子吸光法）のb)（装置）の1)（フレーム原子吸光分析装置）を，次の文に置き換える。1)フレーム原子吸光分析装置JISK0121に規定するフレーム原子吸光分析装置で，測定対象元素用の光源を備え，かつ，バックグラウンド補正が可能なもの。52.［銅（Cu）］の52.2（フレーム原子吸光法）のb)（装置）の1)（フレーム原子吸光分析装置）を，次の文に置き換える。1)フレーム原子吸光分析装置JISK0

4、121に規定するフレーム原子吸光分析装置で，測定対象元素用の光源を備え，かつ，バックグラウンド補正が可能なもの。52.［銅（Cu）］の52.3（電気加熱原子吸光法）のb)（器具及び装置）の2)（電気加熱原子吸光分析装置）を，次の文に置き換える。2)電気加熱原子吸光分析装置JISK0121に規定する電気加熱原子吸光分析装置で，測定対象元素用の2K0102：2010光源を備え，かつ，バックグラウンド補正が可能なもの。66.［水銀（Hg）］の66.1.1（還元気化原子吸光法）のb)（器具及び装置）の3)（水

5、銀中空陰極ランプ又は水銀ランプ）を，次の文に置き換える。3)光源水銀測定用の光源を用いる。図66.1（密閉循環方式の構成の例）及び図66.2（開放送気方式の構成の例）のGの“水銀中空陰極ランプ又は水銀ランプ”を，“水銀測定用の光源”に置き換える。66.［水銀（Hg）］の66.1.1（還元気化原子吸光法）の備考2.c)の“水銀中空陰極ランプと重水素ランプを用いて”を，“水銀測定用の光源と重水素ランプを用いて”に置き換える。66.［水銀（Hg）］の66.1.2（加熱気化原子吸光法）のb)（器具及び装置）の

6、4)（水銀中空陰極ランプ又は水銀ランプ）を，次の文に置き換える。4)光源水銀測定用の光源を用いる。図66.4（加熱気化方式の構成の例）のGの“水銀中空陰極ランプ又は水銀ランプ”を，“水銀測定用の光源”に置き換える。付表1（引用規格）の“JISK8980硫酸水銀（II）（試薬）”を，削除する。