光学三维测量.ppt

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1、光栅投影三维测量技术光学三维测量三维测量技术大体分为接触式与非接触式两类接触式测量基本上在坐标测量机(CoordinateMeasuringMachine，CMM)上进行。坐标测量机是一种大型精密的三坐标测量仪器，可以对具有复杂形状的工件的空间尺寸进行测量。非接触式测量技术基于光学原理，具有高效率、无破坏性、工作距离大等特点，可以对物体进行静态或动态的测量。此类技术应用在产品质量检测和工艺控制中，可大大节约生产成本，缩短产品的研制周期，大大提高产品的质量，因而倍受人们的青睐。光学三维测量光学测量是光电技术与机械测量结合的一门研究。光学测量主要应用在现代工业检测。

2、借用计算机技术，可以实现快速，准确的测量。方便记录，存储，打印，查询等等功能。光学三维测量随着现代检测技术的进步，三维测量技术逐步成为人们的研究重点，特别是随着激光技术、计算机技术以及图像处理技术等高新技术的发展，使得光学式三维测量技术得到广泛的应用。光学非接触式三维测量技术光学式非接触式三维测量技术根据获取三维信息的基本方法可分为两大类：被动式与主动式两大类。被动式是在自然光(包括室内可控照明光)条件下，通过摄像机等光学传感器摄取的二维灰度图像获取物体的三维信息。主动式是利用特殊的受控光源(称为主动光源)照射被测物，根据主动光源的已知结构信息（几何的、物体的、

3、光学的)获取景物的三维信息。光栅投影三维测量技术光栅投影三维测量技术是一种主动式非接触三维测量技术。光栅投影三维测量技术以现代光学为基础，融光电子学、图像图形处理、计算机控制、机器视觉等技术为一体，在工业生产控制与检测、机器人视觉、空间遥感、医学诊断以及社会安全等诸多领域具有广泛的应用前景。它的基本原理是用计算机产生正弦投影条纹，经数字投影仪投射到物体表面，条纹经物体表面调制产生变形，用CCD摄像机将变形条纹拍摄下来，再利用计算机进行相位场提取、相位恢复，得到绝对相位值，最后经系统标定、坐标变换可得物体表面的三维数据。光栅投影三维测量技术光栅投影三维测量技术摄像

4、机和光栅投影相关参数：光心Op和Oc、两光心之间的距离成像平面和投影光栅摄像机坐标、参考坐标PP，Ph光栅投影三维测量技术Ph在未放置物体时，假设由投影仪射出的一束光线投射于参考面上的Ｂ点；当放置被测物体后，该入射光线的投射点变为物面上的Ｐ点。从摄像机的角度观察，被物面进行高度调制后，光线从原Ｂ点移至Ａ点。可理解为线段ＡＢ中带有ＰＰ’的高度信息，只要能够从摄像机所拍摄的图像中解算出高度ＰＰ’，并将该过摆扩展到整个Ｘ－Ｙ平面上所有的点，即可得到高度矩阵h[x,y]光栅投影三维测量技术摄像机和光栅投影相关参数：根据相似三角形原理式中公点B到点A的位移可以通过被调制光

5、栅图像的相位来求得。当原参考面上的B点变为A点时，相应地，B点对应光栅条纹的相位也变为A点处的相位。位移BA包含了包含了物体表面上点Ｐ的高度信息（即ＰＰ），BA可以通过下式求得Phl-h数字光栅投影技术原理摄像机和光栅投影相关参数：Phl-h所以相位重建方法恢复绝对相位光栅投影三维测量技术软件系统组成：光栅投影三维测量技术存在的问题目前，仍存在以下几个问题:1）阴影和盲区问题测量受被测物表面散射特性的限制，必须满足“光线所及（光线能照到)和视线所及(能被观察到)”两个条件，对于光线不可及或视线不可及的地方，形状测量则无法实现，出现阴影和盲区问题。2）表面不连续问

6、题当表面不连续时，条纹相对级次不确定，就会造成解调相位不准确。光栅投影三维测量技术存在的问题3）图像的预处理4）相位去包裹通过相移法求得的相位值都是折叠在-π~+π的主值区间，必须对相位进行去包裹(Phaseunwrpping)处理，正确地恢复出被折叠的2nπ才能求得真实的相位值。5)大曲面的测量6)系统的测量精度由于测量系统的像差效应、透镜的畸变效应、CCD的非线性效应及图像采集板的量化效应等，都会给相移测量法带来很复杂的非线性系统误差，这些因素都降低了相移测量法的测量精度。数字条纹投影三维测量技术可研究的方向一.提高光栅投影三维测量精度欧美一些国家以及日本在

7、光学三维测量技术方面起步比较早。近年内相继推出了不同型号的测量系统国内清华大学，上海交通大学、西安交通大学、东南大学等多所高校也在跟踪、消化、吸收国外先进技术的基础上,对结构光测量技术进行了系统研究。国内目前国内在光栅投影三维测量最高精度可达0.008mm，但测试视场较小在100X75mm范围内，仍然具有进一步提升的空间。光栅投影三维测量技术可研究的方向一.提高光栅投影三维测量精度意义1.激光扫描三维测量耗时长，精度一般2.市面上的3D相机虽然精度高[um级]价格昂贵3.3.采用了正弦光栅投影和相移技术，能以较低廉的光学、电子和数字硬件设备为基础，以较高的速度和

8、精度获取和处理大量的三维