英语翻译任务-H3.5段.ppt

《英语翻译任务-H3.5段.ppt》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。

1、H.3.5Built-inSelf-Test(BIST)什么是BIST测试技术？Built-inSelfTest简称BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。它是一种DFT（DesignforTestability/可测性设计）技术，它可以应用于几乎所有电路，因此在半导体工业被广泛应用。举例来说，在DRAM中普遍使用的BIST技术包括在电路中植入测试图形发生电路，时序电路，模式选择电路和调试测试电路。BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电

2、路的高复杂度。现在，高度集成的电路被广泛应用，测试这些电路需要高速的混合信号测试设备。BIST技术可以通过实现自我测试从而减少对ATE的需求。BIST技术也可以解决很多电路无法直接测试的问题，因为他们没有直接的外部引脚，比如嵌闪。可以预见，在不久的将来即使最先进的ATE也无法完全测试最快的电路，这也是采用BIST的原因之一。——内建自测AnalternativeandattractiveapproachtotestabilityishavingthecircuititselfgeneratethetestPatternsinsteadofr

3、equiringtheapplicationofexternalpatterns[Wang86].可测性的一个替代性和吸引力的方法是电路本身产生的，而不需要对应用[Wang86]外部模式的测试模式。一Evenmoreappealingisatechniquewherethecircuititselfdecidesiftheobtainedresultsarecorrect.更吸引人的是一种技术，电路本身的决定，如果得到的结果是正确的。一一Dependinguponthenatureofthecircuit,thismightrequiret

4、headditionofextracircuitryforthegenerationandanalysisofthepatterns.根据电路的性质，这可能需要增加额外的电路模式的产生和分析。Someofthishardwaremightalreadybeavailableaspartofthenormaloperation,andthesizeoverheadoftheself-testcanbesmall.某些硬件可能已可正常运作的一部分，自检的大小开销小。一Thegeneralformatofabuilt-inself-testdes

5、ignisillustratedinFigureH-10([Kornegay92]).Itcontainsameansforsupplyingtestpatternstothedeviceundertestandameansofcomparingthedevice'sresponsetoaknowncorrectsequence.在一般格式的1个内置的自检设计是在图所示H-10（[Kornegay92]）。它包含1种提供测试的测试模式设备的手段和比较设备的响应的已知的正确的手段序列。二激励电机响应分析仪检测电路通常的内置自测方式结构图检测控

6、制Therearemanywaystogeneratestimuli.有许多方法来产生刺激。Mostwidelyusedaretheexhaustiveandtherandomapproaches.使用最广泛的全面的和随机方法。Intheexhaustiveapproach,thetestlengthis,whereNisthenumberofinputstothecircuit.在全面的方法，测试长度为，其中N是数字电路的输入。三Theexhaustivenatureofthetestmeansthatalldetectablefault

7、swillbedetected,giventhespaceoftheavailableinputsignals.全面的测试性质意味着所有检测到的故障将被检测到，由于可用的输入信号的空间。三AnN-bitcounterisagoodexampleofanexhaustivepatterngenerator.ForcircuitswithlargevaluesofN,thetimetocyclethroughthecompleteinputspacemightbeprohibitive.N位计数器是一个详尽的模式发生器的一个很好的例子。对于电路

8、的N大值，周期时间，通过完整的输入空间可能望而却步。三Analternativeapproachistouserandomtestingthatimpliestheapplica