半导体分立器件盐雾试验方法详解.pdf

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1、◇科技论坛◇科技墨向导2014年11期半导体分立器件盐雾试验方法详解耿宁宁张聪(济南市半导体元件试验所山东济南250000)【摘要】半导体分立器件盐雾试验的重要性，盐雾试验的的步骤，试验样品的安置和试验条件。【关键词】盐雾试验；试验样品安置；试验条件GengNing-ningZhangCong(JinansemiconductordevicetestinginstituteofShandongJi'nan250000)【Abstract]theimpo~anceofdiscretesemiconductordevicesofsaltspraytest，saltspraytestproc

2、edures，resettlementandtestconditionsoftestsamples．【Keywords]Saltspraytest；Sampleplacement；TestconditionsO．引言样品应按下述方位安置在固定的夹具上(有机玻璃棒、尼龙或玻在经济、技术高速发展的今天，产品的质量日益受到人们的重视，璃纤维筛、尼龙绳等)。样品应这样放置，使它们彼此不接触．彼此不遮并且更加重视产品的环境适应性问题合理的制定产品的环境试验挡．能自由地接受盐雾作用．腐蚀生成物和凝聚物不会从一个样品落条件．正确地选择产品的环境防护措施和做好环境试验工作是保证到另外一个样品上产品可靠

3、性和质量的重要环节。随着社会的发展．科学的进步，电子工a．引线固定于封装侧面或引线从封装侧面引出的双列封装：盖面业产品、军用产品的严酷度在不断提高的同时．对检验产品的设备和朝上，偏离垂直方向15o～45o，将有引线的一个封装侧面朝上，偏离垂技术手段也赋予了新的内容盐雾试验是为了模拟海边空气对器件的直方向大于或等于15。一个加速腐蚀试验．在检验产品的可靠性和质量控制方面有着极其重b．引线固定于封装底部或引线从底部引出的封装：盖板偏离要的作用。垂直方向15o～45o。试验时一半样品应盖面向上：剩下一半，引线1．设备向上。盐雾试验设备应包括：c．引线固定于封装某一面或从某一面引出，且与盖板平

4、行的封装：盖板偏离垂直方向15。～45。。将有引线的封装面向上．且偏离垂直方向a．带有支撑器件夹具的试验箱该箱及其附件应采用不会与盐雾发生作用的材料(玻璃，塑料等)制造。在试验箱内，～与试验样品接触大于或等于15。。对金属壳封装，试验时一半样品封帽向上。剩下的样的所有零件，应当用不产生电解腐蚀的材料制造。该箱应适当通风．以品外壳向上其它封装都应盖板向上做试验。防止产生“高压”，并保持盐雾的均匀分布。d．无引线或有引线片式载体：盖板偏离垂直方向15o～45o．试验时bB适当的防止周围环境条件对盐溶液的影响一半样品盖板向上，剩余的样品盖板向下。c．让盐夜雾化的手段．包括合适的喷嘴和压缩空气

5、或者有20％氧、2．5试验箱的控制80％氮组成的混合气体对试验箱进行处理后．具有温度至少35。c的盐雾在规定的试验d_试验箱应能加热和控制时间内流过试验箱试验箱内的温度应保持在(35±3)。C。盐雾的浓度和e．在高于试验箱温度的某温度下．使空气潮湿的手段。速度应调节到使得盐在试验区域内的淀积速率在(20～50)．d)之间。￡空气或惰性气体干燥箱盐的淀积速率可以用体积的、重量的或其他方法来测定。在试验箱底部收集的盐液应废弃g．1倍～3倍、10倍～2O倍和30倍～6O倍放大镜。2．程序2．6应从下列试验条件中规定试验最短时间。除另有规定外．应采2．1试验箱的维护和初始处理用试验条件A试验条

6、件试验箱的清洗是为了保证把会对试验结果产生不良影响的所有物质清除出试验箱。使试验工作在(35+3)oc，用去离子水或蒸馏水进试验条件试验时间(h试验温度(。C)行必要的清洗。每当容器里的盐液用完时，就应当清洗试验箱。某些试A2435验可能在清洗之前进行．这取决于盛盐溶液的大小和所规定的试验条B4835件。当需要做长时间试验时，盛盐溶液的容器可采用备用的容器来补充．以便试验不中断。清洗后，试验箱开始工作时，盐溶液应补满该容C9635器．并且应对试验箱进行适当控制，使其温度稳定，如果试验箱中断工D24035作超过一个星期。即使还留有盐溶液，也应废弃。而且试验箱在重新开2．7样品检验的准备工

7、作始工作之前应当进行清洗完成试验后．试验样品应立即用自由流动的去离子水(水温不超2．2盐溶液过38~C)至少冲洗5min，以便除去样品表面沉淀的盐。而后样品用空为了达到3．5所要求的淀积速率．盐溶液的浓度应为0．5％～3．0％气或惰性气体吹干，按相关规定进行检查即可。(重量百分比)的去离子水或蒸馏水溶液。所用的盐应为氯化钠，其碘化钠的质量百分比不得多于0．1％．且总杂质的质量百分比不得多于3．结束语0．3％。在(35+3)。C下测时，盐溶液的p