弯曲法测横梁弹性模量研究性报告

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时间:2017-12-14

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1、弯曲法测横梁弹性模量第一作者:马奎元14051206第二作者:蒲兴宇14051212学院:航空科学与工程学院20摘要:弹性模量就是描述材料形变与应力关系的重要特征量,它是工程技术中常用到的一个参数。弯曲法测量横梁弹性模量是一种轻便有效的试验方法。本文主要从实验原理,实验方法和内容,数据的测量与处理,以及存在的问题这几个方面进行讨论。关键词:弹性模量,霍尔位置传感器,数据处理20实验目的1.熟悉霍尔位置传感器的特性;2.了解弯曲法测弹性模量的原理和霍尔传感器原理的应用;3.掌握基本长度和微小位移量测量的方法,学习游标卡尺、千分尺等常用长度测量仪器的使用。实验原理(1)霍

2、尔位置传感器  霍尔元件放置于磁感应强度为的磁场中,在垂直于磁场方向通以电流,则与这二者相垂直的方向上将产生霍尔电势差:  (1)  (1)式中为元件的霍尔灵敏度。如果保持霍尔元件的电流不变,而使其在一个均匀梯度的磁场中移动时,则输出的霍尔电势差变化量为:    (2)  (2)式中为位移量,此式说明若为常数时,与成正比,其比例系数用表示,称为霍尔传感器灵敏度。图1均匀梯度磁场20为实现均匀梯度的磁场,可以如图1所示,两块相同的磁铁(磁铁截面积及表面磁感应强度相同)相对放置,即极与极相对,两磁铁之间留一等间距间隙,霍尔元件平行于磁铁放在该间隙的中轴上。磁铁截面要远大于

3、霍尔元件,以尽可能的减小边缘效应影响,提高测量精确度。  若磁铁间隙内中心截面处的磁感应强度为零,霍尔元件处于该处时,输出的霍尔电势差应该为零。当霍尔元件偏离中心沿轴发生位移时,由于磁感应强度不再为零,霍尔元件也就产生相应的电势差输出,其大小可以用数字电压表测量。由此可以将霍尔电势差为零时元件所处的位置作为位移参考零点。霍尔电势差与位移量之间存在一一对应关系,当位移量较小(),这一对应关系具有良好的线性。(2)攸英装置攸英装置如图4所示,在二支架上设置互相平的钢制刀刃,其上放置待测棒和辅助棒。在待测棒上二刀刃间的中点处,挂上有刀刃的挂钩和砝码托盘,往托盘上加砝码时待测

4、棒将被压弯,通过在待测棒和辅助棒上放置的千分表测量出棒弯曲的情况,从而求出棒材的杨氏模量。图2攸英装置20(3)弹性模量  将厚度为、宽度为的横梁放在相距为的两刀口上,在梁上两刀口的中间处挂一质量为的砝码,这时梁被压弯,梁的中心处下降的距离称为弛垂度。在横梁发生微小弯曲时,梁的上半部分发生压缩,下半部分发生拉伸;而中间存在一个薄层,虽然弯曲但长短不变,称为中性面(见图2)。取中性面上相距为、厚为、形变前长为的一段作为研究对象(见图2)。梁弯曲后所对应的张角为,长度改变量为,所受的拉力为。图3弯曲梁弹性模量计算用图根据胡克定律有(3)(3)式中,表示形变层的横截面积,设

5、横梁宽为,则。于是,此力对中性面的转矩为20积分得(4)如果将梁的中点O固定,在两侧各为处分别施以向上的力,则梁上距中点O为、长为的一段,由于弯曲产生的下降为当梁平衡时,由外力对该处产生的力矩等于由式(4)求出的力矩,即从该式中解出代入式中并积分,可求出驰垂度于是弹性模量为(5)属微小位移,用一般工具很难测准,在此可用霍尔位置传感器进行测量。20实验仪器(见图4,图5)Ⅰ.霍尔位置传感器测杨氏模量装置一台(底座固定箱、读书显微镜、95型集成霍尔位置传感器、磁铁两块等);图5试验装置示意图图4实验所需仪器Ⅱ.霍尔位置传感器输出信号测量仪一台(包括直流数字电压表)。其中:

6、1.铜刀口上的基线2.读数显微镜3.刀口4.横梁5.铜杠杆(顶端装有型集成霍尔传感器)6.磁铁盒7.磁铁(极相对放置)8.调节架9砝码20实验内容²利用霍尔传感器测量弹性模量一.实验仪器调整1)调节三维调节架的调节螺丝,使集成霍尔位置传感器探测元件处于磁铁中间的位置。2)用水准器观察是否在水平位置,若偏离时可以用底座螺丝调节。3)调节霍尔位置传感器的毫伏表。磁铁盒下的调节螺丝可以使磁铁上下移动,当毫伏表数值很小时,停止调节固定螺丝,最后调节调零电位器使毫伏表读数为零。4)调节读数显微镜,使眼镜观察十字线及分划板刻度线和数字清晰。然后移动读数显微镜前后距离,使能够清晰看

7、到铜架上的基线。转动读数显微镜的鼓轮使刀口架的基线与读数显微镜内十字刻度线吻合,记下初始读数值。二.数据测量记录1)逐次增加砝码(每次增加10g砝码),相应从读数显微镜上读出梁的弯曲位移及数字电压表相应的读数值(单位mV)。以便于计算杨氏模量和霍尔位置传感器进行定标。(注意:在进行测量之前,要求符合上述安装要求,并且检查杠杆的水平、刀口的垂直、挂砝码的刀口处于梁中间,要防止外加风的影响,杠杆安放在磁铁的中间,注意不要与金属外壳接触,一切正常后加砝码,使梁弯曲产生位移;精确测量传感器信号输出端的数值与固定砝码架的位置Z的关系,也就是用读数显微镜对传感器

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