超大规模集成电路测试.ppt

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1、全扫描可测试性实现方法超大规模集成电路测试为什么需要扫描测试集成电路器件的制造面临着许多测试问题。现实情况表明，集成电路器件的发展趋势是更高的密度、更多的引脚、更大的晶圆尺寸、更小的特征尺寸、更细的导线、更高的频率，这就使得集成电路对污染、工艺更加敏感，与此同时，也包含了出现物理故障的更高概率（由于更多的门与门之间的互连）。“更高的频率”、“更多的管脚数”和“更高的复杂性”使得测试平台的价格不断提升，出现了“测试代价危机（crisisintestcost）”。在某些市场，由于测试而带来的消费是硅片和封装价格总和的2~4倍[20]。面对这样的问题，最好的

2、解决方案就是提供某种测试访问机制，该机制能够提高电路内部节点的可控性和可观察性，从而缩短测试时间、减小测试数据量、降低测试平台复杂性。扫描测试可以有效的解决这个问题。可测试性设计的一般思想是构造扫描链，构造扫描链的关键是用可扫描寄存器替换原来的标准寄存器。一般情况下，可以使用的具有扫描功能的寄存器有四种类型，分别是：多路选择器型、专用时钟型、电平敏感型、辅助时钟型。下面就不逐一加以介绍。可扫描单元类型如何提高故障覆盖率提高故障覆盖率的关键就是要提高电路的可控制性和可观察性。由于种种原因，某些电路的可控制性和可观察性往往不高，不可控制或者不可观察，也就造

3、成某些故障的不可测试。鉴于这样的原因，就需要对电路进行修改，修改电路的同时，要保证逻辑和时序的正确。这里给出一些常见问题的解决办法。多路选择器型的触发器是一种主流类型。用带有选择器的触发器（或锁存器）单元替代标准的触发器（锁存器）单元，并将它们串在一起，形成扫描链，然后将ATPG施加到其上，就可以控制和观察电路内部节点处的信号。图4-1给出了采用多路选择器构成的可扫描触发器。图a为常规的D触发器示意图，图b为可扫描D触发器符号，图c为图b相对应的内部电路结构。专用时钟扫描单元专用时钟控制的扫描方法是使用一个专用的、边沿触发的测试时钟来提供串行移位驱动。

4、在功能模式下，系统时钟是活动的，系统数据被时钟打入单元电路。在测试移位过程中，测试时钟是活动的，扫描数据被打入该电路单元。电路符号如图4-2所示。图a为标准的D触发器，图b为专用时钟控制的可扫描单元。在这种结构中，相当于有两个D输入端，两个时钟输入端。在这种方式下，需要增加的测试引脚有：扫描输入、测试时钟、扫描输出（可以和输出功能引脚共用）。电平敏感扫描设计常见的电平敏感扫描（LSSD扫描设计，LevelSensitiveScandesign）单元有3种方式：单锁存器、双锁存器、专用时钟控制锁存器。门控时钟问题如下图4-5所示，当F0、F1中的任何一个

5、为0时，时钟脉冲将被阻止传到F2，因此F2将不能和F0、F1放在同一个扫描链中。解决这个问题的办法如图4-6所示。在正常工作时，ASIC_TEST为低电平，插入的两个或门均打开，和图4-5功能相同。图4-5门控时钟问题图4-6门控时钟问题解决办法时钟分频问题ATE只能控制输入端口的波形，对于如图4-7所示的情况，ATE只能控制CLK，在扫描过程中，对于虚线框中的F0和F1，并不是每一个测试时钟都能够到达F0和F1，因此，在测试过程中，很难预测它们的状态变化。这样就需要改造该电路来实现可测试性。改造后的电路如图4-8所示。图中增加了一个二选一选择器。在正

6、常工作状态，ASIC_TEST为低电平，分频后的时钟信号可以驱动F0和F1，与图4-7的逻辑功能相同。在测试方式下，CLK可以直接作用到F0和F1，因此F0和F1可以被包括到扫描链中。值得指出，选择器的引入可能造成时钟歪斜（clockskew），但是，在频率不高的情况下，可以忽略这个影响。图4-7时钟分频问题示例图4－8时钟分频问题解决方法示例内部复位问题该问题是指在电路内部有不可控制的异步复位端，如图4-9所示。从图中可以看出，F2和F3的复位端和F1的Q端相连，因此，在测试向量施加的过程中，F1的状态将影响F2和F3的值，造成扫描链测试数据加载混乱

7、。为了解决这个问题，采用图4-10所示的方法：增加一个多路选择器。在正常工作模式下，该选择器是透明的，图4-9内部复位问题示例电路的工作逻辑和图4-9完全相同，也就是说，不会出现功能上的错误。在测试模式下，ASIC_TEST为高电平，复位时钟可以有效的施加在所有、的触发器上，使得扫描链可以正常的加载测试向量，进行扫描测试。图4-10内部复位问题解决办法1另外还有一种解决该问题的办法，如图4-11所示。在正常工作模式下，ASIC_TEST为低电平，或门对于Q1而言是直通的，不影响电路的正常功能。在测试模式下，ASIC_TEST为高电平，从而阻碍了Q1对F

8、2和F3的影响，因而它们都可以放在扫描链中。至于是否放在同一个扫描链中，就看设计的需要了。图4