厦大数电实验实验二.docx

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1、实验二TTL与非门的参数测试一、实验目的·掌握TTL与非门主要参数的测试方法。·掌握TTL与非门电压传输特性的测试方法。·熟悉集成元器件管脚排列特点。二、实验原理TTL集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门,使用时必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试,以确定其性能好坏。本实验采用TTL集成元器件74LS00与非门进行测试。它是一个2输人端4与非门,形状为双列直插式,逻辑表达式为F=A·B,其逻辑符号及外引线排列图如图1—1(a)(b)(c)(d)所示。1.TTL与非门主要参数(1)输出高电平VOH和输出低电平VOLVOH是指与非门一个以上

2、的输入端接低电平或接地时,输出电压的大小。此时门电路处于截止状态。如输出空载,VOH必须大于标准高电平(VSH=2.4V),一般在3.6V左右。当输出端接有拉电流负载时,VOH将降低。VOL是指与非门的所有输人端均接高电平时,输出电压的大小。此时门电路处于导通状态。如输出空载,VOL必须低于标准低电平(VSL=0.4V),约为0.1V左右。接有灌电流负载时,VOL将上升。(2)低电平输入电流IILIIL是指当一个输入端接地,而其他输入端悬空时,输入端流向接地端的电流,又称为输入短路电流。IIL的大小关系到前一级门电路能带动负载的个数。(3)高电平输入电流I

3、IHIIH是指当一个输入端接高电平,而其他输入端接地时,流过接高电平输入端的电流,又称为交叉漏电流。它主要作为前级门输出为高电平时的拉电流。当IIH太大时,就会因为“拉出”电流太大,而使前级门输出高电平降低。(4)输入开门电平VON和关门电平VOFFVON是指与非门输出端接额定负载时,使输出处于低电平状态时所允许的最小输入电压。换句话说,为了使与非门处于导通状态,输入电平必须大于VON。VOFF是指使与非门输出处于高电平状态所允许的最大输人电压。(5)扇出系数N0N0是说明输出端负载能力的一项参数,它表示驱动同类型门电路的数目。N0的大小主要受输出低电平时

4、,输出端允许灌人的最大电流的限制,如灌人负载电流超出该数值,输出低电平将显著抬高,造成下一级逻辑电路的错误动作。(6)空载导通功耗PON静态工作、输出为低电平时的功耗,即电源电压VCC和导通电源电流ICCL的乘积。2.TTL与非门的电压传输特性TTL与非门电路的电压传输特性,表示输入电压从零电平逐渐升到高电平时,输出电压的变化。利用电压传输特性曲线不仅可直接读出其主要静态参数,如VOH、VOL、VON、VOFF、VNH和VNL(如图1-2所示),还可以检查和判断TTL与非门的好坏,如若VON和VOFF,两个数值越靠近,越接近同一数值(阈值电平VT),就说明

5、与非门电路的特性曲线愈陡,抗干扰能力越强。3.平均传输延迟时间tpdtpd是衡量门电路开关速度的参数,原因是输出电压对输入电压有一定的时间延迟,tpd等于导通时间和截止时间的平均值。由于TTL门电路的延迟时间较小,直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高,故实验一般采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。其工作原理是:假设电路在接通电源后某一瞬间,电路中A点为逻辑“1”,经过三级门的延时后,使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”;再经过三级门的延时后,A点电平有重新变为逻辑“1”。电路的其它各点的电平也跟随变化。说明使A点发生一个周期

6、的振荡,必须经过6级门的延迟时间。因此平均传输延迟时间为tpd=T三、实验仪器及器件DZX-2B型电子学综合实验装置,YB4320A双踪四迹示波器,集成2输入端四与非门74LS001片,电阻、电位器导线若干。四、实验内容1.测试TTL与非门的各项参数分别列表记录所测得数据;(1)分别测量TTL与非门74LS00在带负载下的输出高电平VOH和输出低电平VOL;表一带负载(3.6K)VOH(V)VOL(V)3.4240.1927(2)测量输入开门电平VON和关门电平VOFF表二VOFF(V)VOL(V)VON(V)0.83550.19271.4455表三IIS

7、(mA)0.9633(3)测量输入电流IIS;2.测试电压传输特性表四与非门电压传输特性测试VOFF(V)VOL(V)VON(V)VoH0.83550.19271.44553.853.测量平均传输延迟时间tpd表五T(ns)tpd(ns)48.28.03五、实验报告分析1.列表记录、整理数据,并对结果进行分析。见表一至表五2.与非门逻辑功能:同时输入两个高电平,则输出低电平,否则输出高电平!3.按相关图链接电路,打开开关,然后再将信号发生器和示波器调至正确参数,信号发生器按输出按键,示波器按自动挡,直流耦合。查看示波器显示图形,正确之后再将标准模式调至所需

8、模式,之后读数!4.优点:图形直观形象;缺点:不准确!

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