752.基于μcos-ⅱ和arm7的数据采集系统

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1、基于μC/OS-Ⅱ和ARM7的数据采集系统目录摘要3ABSTRACT4第一章概述61引言61.1试验机的发展前沿61.2uC/OS-Ⅱ的特点62概论93问题背景10第二章系统分析122.1系统开发环境及使用工具122.1.1ARM集成开发工具介绍122.1.2H-JTAG介绍122.1.3开发板及周边硬件介绍14第三章系统设计173.1系统设计思路与实现方法173.1.1SPI(PDC)模块的设计与实现17393.1.2AD转换模块的设计与实现(CS1180)203.1.3FLASH存储模块的设计与实现(AT45DB321C)223.1.4μC/OS-Ⅱ实时系

2、统的移植与系统集成243.2系统及关键代码分析263.2.1系统测试及分析263.2.2部分关键代码分析26第四章系统讨论34第五章毕业设计小结35致谢36参考文献3739摘要本系统是基于μC/OS-Ⅱ的数据采集系统,采用以ARM7系列的AT91SAM7X256芯片为处理芯片的开发板,利用板载的A/D转换模块(CS1180芯片)将采集到的模拟信号转换为数字信号,利用SPI以及PDC进行通讯,从而将数据存储在FLASH芯片(AT45DB321C)中。整个系统建立在以μC/OS-Ⅱ为平台的实时操作系统上,μC/OS-Ⅱ系统为整个系统提供了多任务、多线程工作的环境,

3、通过μC/OS-Ⅱ系统,可以实现数据采集与数据处理以及数据存储以及后续版本的网络通讯的同时进行,从而使整个系统具有了高度的实时性与可扩展性。该系统适用于当前的试验机行业、工矿自动化称量(配料)控制等相关行业,属于采用先进的芯片集成技术和专业设计的数据采集放大的过程控制系统;该系统还适用于各种金属与非金属材料的各项力学性能指标的测试,有着丰富的应用前景。关键词:μC/OS-Ⅱ,AT91SAM7X256芯片,A/D转换,数据的采集、处理及存储,多任务、多线程,实时性与可扩展性英文翻译:39AbstractThesystemisbasedonμC/OS-Ⅱdataa

4、cquisitionsystem,usedtoAT91SAM7X256seriesofARM7processorchipforthedevelopmentboard,theuseofonboardA/Dconvertermodule(CS1180chip)willbecollectedtotheconversionofanalogsignalstodigitalsignals,PDCandtheuseofSPIcommunication,datastoredinthechipFLASH(AT45DB321C)in.Thewholesysteminorderto

5、establishμC/OS-Ⅱasaplatformforreal-timeoperatingsystem,μC/OS-Ⅱsystemfortheentiresystemtoprovideamulti-task,multi-threadedworkenvironment,throughμC/OS-Ⅱsystem,canachievedataacquisitionanddataprocessinganddataFollow-upversionofthestorageandnetworkcommunicationsatthesametime,sothatthew

6、holesystemhasahighdegreeofreal-timeperformanceandscalability.Thesystemappliestothecurrenttestingmachineindustry,miningautomationWeighing(ingredients)control,andotherrelatedindustries,areusingadvancedchipintegrationtechnologyandprofessionaldesignofdataacquisitiontoenlargetheprocessco

7、ntrolsystem,thesystemalsoappliestoallkindsofmetalandNon-metallicmaterialsofthemechanicalpropertiesofthetest,isrichinprospects.KeywordsμC/OS-Ⅱ,AT91SAM7X256chip,A/Dconversion,datacollection,processingandstorage,multi-task,multi-threaded,real-timeperformanceandscalability.39第一章概述1引言1.1

8、试验机的发展前沿我国的IT研究领域的试

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