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时间:2019-03-08
《实验一 集成门电路的逻辑功能测试new》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、实验一TTL/CMOS集成门电路的逻辑功能测试一、实验目的1掌握查找集成门电路资料的方法。2掌握7种逻辑门电路的逻辑功能。3会用74LS00(四2输入与非门)实现其它逻辑功能。4初步用Multisim10进行数字电路的仿真。二、实验设备和元器件1SAC-2电工电子实验台;SS-01数字实验模块。2DL-4330示波器;EM-1463函数信号发生器。374LS0474LS0074LS0274LS86三、实验内容和步骤1.74LS04(六反相器)逻辑功能测试将74LS04按图1.1连线。输入端A接逻辑开关,输出
2、端接发光二极管。改变输入端的状态(即高、低电平),观察输出端发光二极管的亮灭。VCCX1LED5VJ1U1AKey=A74LS04D图1.1+U20.113V电压表-2.74LS00(四2输入与非门)逻辑功能测试将74LS00按图1.2连线。输入端A、B接逻辑开关,输出端接发光二极管。改变输入端的状态(即高、低电平),观察输出端发光二极管的亮灭。VCC5VX2LEDJ2Key=AU3AJ374LS00D+U4Key=B4.424V电压表-图1.23.74LS02(四2输入或非门)逻辑功能测试将74LS02按
3、图1.3连线。输入端A、B接逻辑开关,输出端接发光二极管。改变输入端的状态(即高、低电平),观察输出端发光二极管的亮灭。1VCC5VJ1X1LEDKey=AU1AJ274LS02D+U2Key=B4.424V电压表-图1.34.74LS86(四2输入异或门)逻辑功能测试将74LS02按图1.4连线。输入端A、B接逻辑开关,输出端接发光二极管。改变输入端的状态(即高、低电平),观察输出端发光二极管的亮灭。VCCX15VJ1LEDKey=AU1AJ274LS86D+U2Key=B0.113V电压表-图1.4输入
4、输出ABY1Y2Y3Y400011011逻辑表达式5.用74LS00实现非、与、或、异或等逻辑功能(图1.5)5VY1A5V74LS00DAY2BA74LS00DY174LS00D74LS00D25VA74LS00DY374LS00DB74LS00DA74LS00DY4B74LS00D74LS00D74LS00D图1.56.用74LS00实现与或非、或非的逻辑功能,写出逻辑表达式,画出逻辑电路图,测试其功能。总结用与非门实现其它逻辑功能的一般步骤。7.用Multisim10对以上实验内容进行仿真。四、实验报
5、告要求1.画出实际集成电路实验连接图。2.整理实验数据。五、预习要求1熟悉所用集成逻辑门电路的逻辑功能和外部引脚排列及使用方法。2TTL门电路多余输入端如何处理?3用与非门实现其它逻辑功能的一般步骤。3
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