狮子山铜矿岩壁x取样研究与应用_方同秀

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1、·.第1519968月物探化探计算技术Vol18Aug1996卷增刊年COMPUTINGTECHNIQUESF()RGEOPHYSICALANDGEOCHEMICALEXPLORATION狮子山铜矿岩壁X取样研究与应用方同秀’周道玉(成都理工学院)【摘要】本文主要介绍了应用X封线荧光方法在狮子山铜矿进行岩壁X取样的技术和工作过程,提了一些克服岩壁X取样影响因紊的方法。了。出并对使用效果进行评价【关健词】X取样钥矿1问题的提出,。,岩壁X取样在国内外很多矿种上应用都有过成功的经验铜矿山的应用更为广泛但是,。,由于铜矿床类型的差异导致了影响因素的复杂性和特异性必须因

2、地而异不同的问题用不,。同的方法解决才会取得较好的效果狮子山铜矿大团山铜矿床系一受地层层位控制的矽卡岩型铜矿床。矿体主要赋存于二迭,。、系上统大隆组底部三迭系下部小凉亭组层位中矿石类型主要为含铜矽卡岩夹角岩含铜矽卡岩、含铜角岩、含铜磁铁矿、矽卡岩夹角层、含铜磁黄铁矿矽卡岩等。主要金属矿物为黄铜矿、、。,、,磁黄铁矿黄铁矿等根据实验结论要使岩壁X取样能达到合同指标满足生产要求必须解:、、。决以下几个关键性技术问题基体效应几何效应矿化不均匀和水份影响2.岩壁X取样的影响因素及克服矿石基体效应及修正办法在分析地质、矿山的样品中,由于其基体成份复杂,会对待测元素的荧光计

3、数率产生影响,直接影响荧光测量的准确性。大团山铜矿床属层控含铜矽卡岩矿床,最主要的干扰元素是铁元素。,,。,考虑到铜元素含量变化范围不大在排除铁变化外其它成份基本比较稳定因此为了克服基体效应我们采用了滤片补偿和用特散比计算的方法,取得了较好的效果。实际作法是调整,“”,,铜滤片时根据铁元素的含量人为地使铁的透过率不平衡且为某一正值可以有效地克服,,;吸收效应的影响同时根据大团山铜矿床矿石类型引人特散比法使基体成份的影响降到最小。从数百个化学分析的副样测试结果观察,采用这两种措施进行基体效应校正可使荧光测量完全满足生产要求。,:;::1:收稿日期1996一04一1

4、0改稿日期1996一07一30地址成都市二仙桥东三路号(邮政编码61059):增刊方同秀等御子山桐矿岩壁X取样研究与应用一119·岩壁几何效应及克服、,。X取样的测量对象是探槽坑道和采场的岩壁其表面总是凹凸不平当探测器置于岩壁,,表面进行测量时特征X射线强度将随探测器有效面积的改变而变化同时源样距也在不断,,,。变化这些都统称为几何效应显然它将对取样结果带来一定的误差,首先采用特散比方法可在一定程度上降低几何效应的影响因为研究资料表明岩壁表面,、凹凸不平对X射线计数率造成的影响等于源样距变化的影响而特征X射线散射射线计数;率随源样距的变化规律基本相同其次在探头上

5、将放射源至探头表面(测样面)的距离已调整,,;到最佳源样距处另外在X取样前对其表面用工具进行必要的修整使其源样距变化值最小。在采取了上述三项措施后,岩壁几何效应的影响已控制在满足生产质量要求范围内。矿化不均匀效应的克服大团山铜矿为一层控矽卡岩铜矿床.主要矿石类型有含铜矽卡岩、含铜角岩、含铜磁黄铁。、、矿矽卡岩黄铜矿主要呈细粒一微粒状浸染状细脉状不均匀地分布于上述不同矿化类型的岩石中.显然克服矿化不均匀的关键是保证相当数量的测点数。但在一个样上布置的测点越,,。多矿会降低测点太少又不能克服不均匀效应带来的误差本次工作中采用1米长,点何隔5公分共20个测点来测量从实

6、际完成四条穿脉的测量数据并结合现,,。场地质观察X荧光测量采用间隔距5公分一个测点基本能克服矿化不均匀的影响克服水份的影晌,,由于地表水沿构造断裂和岩石微裂隙的下渗加之井下坑道通风不好井下坑道空气湿度,。较大岩壁表面较为潮湿这种状况在X射线荧光取样测量中相当于是在探测器与岩壁表面,增加了一层轻物质而造成对特征X射线的吸收和增加了散射射线的计数率对测量带来误差。为此在对大团山铜矿床23号穿脉进行井下岩壁测量的同时采集了相应地段不同矿化类,:,;型的矿石手标本让手标本在两种状态下进行测量其一让手标本表面呈相对较干状态另外,。:将手标本浸人水中后再拿出使其表面附着一层

7、水(相当于井下状态)测量结果显示两种状态不同矿石类型手标本测量出的铜含量的相对误差变化值从4.5%到43%,而且含铜磁黄铁矿类型的矿石比含铜矽卡岩类型的变化幅度要大得多。实际工作中根据现场测量时所观察记录,。的取样岩壁的潮湿度对测量结果进行修正这样可以减小湿度因素的影响3工作方法及过程整个研究工作分室内和现场测量两部分。室内测量是指收集有代表性的岩壁刻槽化学分析副样,并尽量使铜含量范围最大。其目的是建立测量样品的特散比值与化学分析值之间的线性回归方程,了解基体效应的影响程度并验证克服基体效应的效果,统计分析误差、合格率等重要参数。,,从随机选取的341个化学分析

8、副样中用回归方程推算出每

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