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1、SPC教育訓練內容:SPC統計制程控制天津品保謝鳳宇2004.10.25過程變异分為兩种,即特殊原因引起的變异和普通原因引起的變异.過程控制的目的是區分特殊原因引起的變异与普通原因引起的變异,並對特殊原因引起的變异進行控制,按照統計規律,過程未發生特殊原因引起的變异時,控制對象的任一樣本點落在X+3σ區域內的概率為99.73%,這就是著名的3σ原理.一.工序預控制圖的假設條件1.3σ原理X+3σX-3σX22.工序預控制圖的假設CP即短期過程能力,計算公式如下:CP=TU-TL6σTL=規格下限TU=規格上限u=工序總体平均值T=規格中心σ=工序總体標准差3
2、.工序預控制圖的分區TLTUT預控制線預控制線不良區不良區警戒區警戒區目標區-1.5σ-3σ+3σ+1.5σμ3二.工序預控制方法1.工序預控制圖區域的概率工序受控時,樣品數据落在TU和TL界限內的概率CP>1意味著(TU-TL)>3σ,按照工序預控制的假設條件及3σ原理可知,工序處于受控狀態時,任一樣品數据落在X+3σ范圍內的概率為99.73%.如CP>1,則當工序受控時,落在TU和TL界限內的概率大于99.73%.工序受控時,樣品數据落在不良區的概率CP=1時,樣品數据落在不良區(即+3σ以外區域)的概率為0.27%,分配至每一邊為0.135%.當CP>
3、1時,此概率小于0.27%,當CP<1時,此概率大于0.27%.4三.工序預控制案例案例:檢驗員從加工好的A產品中隨机抽取30PCS樣品,測得關鍵尺寸B的數据如下表:B尺寸規格:10.50+0.02mm5<一>.手工計算确定CPCP=TU-TL6σσ=Rd2d2=常數(查表可知)R(全距)=Xmax-XminR=(R1+R2+…..Rn)nn為組數TL=規格下限TU=規格上限將數值帶入公式得:σ=0.00507TL=10.48TU=10.52CP=1.316适用於大樣本,30組數据以下S=2适用於小樣本,30組數据以上6<二>.應用軟体分析CP1.數据輸入各
4、式72.正態性檢測進入此項8點OK標題欄雙擊進入樣品數据區9P=0.484>0.05,因此以95%的置信度,認為符合正態分布103.進入CP分析圖進入此項11輸入30組雙擊進入樣品數据規格上限規格下限按OK12CP=1.30134.确認工序中心有未偏移計算得:X=10.499X-T=10.499-10.50=0.0011.5σ=1.5*0.00507=0.0076因此認為工序中心未偏移.因為X-T=0.001<1.5σ=0.007614四.過程控制与過程能力1.過程的四類狀態處于受控狀態且有能力滿足要求處于受控狀態但普通原因引起的偏差過大LSLUSL能力滿足
5、要求t1t2t3處于受控狀態LSLUSL能力不滿足要求(分布過寬)t1t2t3處于受控狀態15不受控制狀態,但有能力滿足要求不受控制狀態,能力不滿足要求LSLUSL能力滿足要求μT不在受控狀態t1t2t3LSLUSL能力滿足要求(均值偏移)μTt1t2t3不在受控狀態162.過程能力的衡量指標CPCPKCPMZ173.3σ原理控制圖------99.99%99.999999%99.9999%68.26%95.45%99.73%如果數据服從正態分布,其落在各μ+nσ區間的概率如下圖所示.184.控制圖的分類按其控制對象的數据類別分類:計量值數据控制圖:計量值數
6、据控制圖的控制對象的數据類別為連續型數据,如長度,重量,壓力,時間,溫度等.常用計量值數据控制圖有:A:均值与极差圖---------------X-R圖B:均值与標准差圖------------X-S圖C:中位數与极差圖------------X-R圖D:單位与移動极差圖---------X-RM圖~19計數值數据控制圖:計數值數据控制圖的控制對象的數据類別為离散型數据,如不良數,不良率等.常用計數值數据控制圖有:A:不良率控制圖---------------P圖B:不良數控制圖---------------Pn圖C:缺陷數控制圖-------------
7、--C圖D:單位缺陷數控制圖---------U圖20σRd2σSC4^6σSC4^5.過程能力的度量指數CP為能力指數,定義為不考慮過程偏移時,公差寬度除以過程固有偏差的6σ范圍,公式如下:CP=USL-LSL6σRd2^或CP=USL-LSL式中:USL=規格上界限LSL=規格下界限^=過程固有偏差=估計的過程標准差R=子組內數据极差的平均值d2=常數,查表可得S=子組樣本標准差的平均值,其中:S=2C4=常數,查表可得n=子組樣本容量21CPU為上限能力指數,定義為規格上界限与平均值之差除以過程固有偏差的3σ范圍.表示如下:式中:USL=規格上界限σR
8、d2^=過程固有偏差CPU=USL-X3σRd2^X
