劳埃法及其应用.ppt

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1、X射线衍射技术第五讲劳埃法及其应用劳埃法及其应用大家回顾一下晶体的衍射强度劳埃函数推导出干涉方程和布拉格公式s=g2dsin=结构因素推导出消光规律劳埃法及其应用由干涉方程和爱瓦德图解了解了各种衍射方法单色光照射单晶体单色光照射转动的单晶体连续光照射单晶体单色光照射多晶体a*b*0100010020晶体So/S/s=g劳埃法实验原理图底片衍射线透射2θ50mm晶体x-ray反射底片2θ晶体30mm衍射线劳埃法实验劳埃法-------连续光照射单晶体对光源的要求：光强高，波长范围宽－－－增加劳埃斑点的强度和数目一般用W靶V=30~70kV另外底片要标记正反面（一

2、是方底片左上角切角，另一是在底片盒上加标记）通常一次装三张底片劳埃法的爱瓦德图解劳埃法-------连续光照射单晶体b*0100010020晶体S/22不容易直观解释衍射现象，亦不易看出衍射方向劳埃法的爱瓦德图解020衍射方向100010110020干涉球200000连续X射线波长在一定范围内变化将爱瓦德图解作一简单变换将干涉球直径由1/改为1将g=1/d作倒易点阵改为g=λ/d即倒易球不变，而倒易点阵变劳埃法的爱瓦德图解很容易看出(hkl)(2h2k2l)(3h3k3l)等价晶面衍射方向一致，形成同一个劳埃斑换句话说，,/2,/3波长的X射线衍射形成同

3、一个斑点所以低指数面衍射斑点强（例外是特征线衍射高指数面）2dsin=ndhkl=2d2h2k2l=3d3h3k3l劳埃法照片特征000晶体因椭圆和双曲线均是同一晶带的晶面衍射斑点，称其为晶带曲线点多的为低指数晶带入射线透射背射劳埃法测定单晶取向单晶取向的测定劳埃斑与晶面极点透射法测定单晶取向背射法测定单晶取向001110111001010100001劳埃斑点的晶面极点tg2=S/DR=1/2θθθRθ劳埃斑极点1235432154S反射面DR1=D+S变换尺格氏网对于背射劳埃照片也可以用上述方法找到其与极射投影间的关系，但由于很大，投影集中于中间，上述方法

4、误差较大。因此，背射采用格氏网将劳埃斑转换成极射投影。格氏网－－将吴氏网代替倒易点阵投影获得。格氏网经线纬线SN透射法测定单晶取向底片衍射线透射2θ50mm晶体x-ray劳埃斑极射投影透射法测定单晶取向透射法测定单晶取向背射法测定单晶取向背射法测定单晶取向劳埃法的其他应用举例单晶体的定向切割塑性变形的研究双面法测滑移面极点轨迹测挛生面滑移方向的测定双面法测滑移面取一单晶试样磨出两个相互垂直的金相平面变形出滑移线用金相测出其，NABXY双面法测滑移面-XYA面N滑移面极点轨迹滑移线SB面NSX-Y滑移线滑移面极点轨迹Y-XPB面转90度NSSNABXY用劳埃

5、法测出P点的指数极点轨迹测挛生面001011111001011111001110111112123012变形＋抛光＋偏振光观察照劳埃相转换成标准投影重复多次即可获得孪生面滑移方向的测定滑移面拉伸轴111滑移方向依据：1、滑移方向一定在滑移面内，滑移方向一定位于垂直于滑移面的大园。滑移面用前面的方法测定2、晶体拉伸时，滑移方向会逐渐向拉伸轴。