TTL门电路逻辑功能的测试及功能的转换.doc

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1、TTL门电路逻辑功能的测试及功能的转换内容：1.测试74LS00的逻辑功能2.测试74LS08的逻辑功能；3.测试74LS86的逻辑功能；4.测试74LS02的逻辑功能。一.试验目的⑴了解集成元器件引脚的排列特点⑵掌握TTL与门主要参数的测试方法⑶掌握TTL与门电压传输特性的测试方法二.试验内容㈠74LS00四2输入与非门AB1Y2Y3Y4Y001111011111101111110000由测试结果可得结论：有0出1，全1出0。㈡74LS08四2输入与门AB1Y2Y3Y4Y000000010000100000111

2、111由测试结果可得结论：有0出0，全1出1。㈢74LS86四2输入异或门ABYYYY000000011111101111110000由测试结果可得结论：相同出0，相异出1。㈣74LS02四2输入或非门AB1Y2Y3Y4Y001111010000100000110000A由测试结果可得结论：全0出1。㈤扩充试验：设计Y=A+B电路并做连接测试