TTL门电路的逻辑功能测试.doc

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1、学生实验报告系别电子工程系课程名称《数字逻辑设计及应用》实验班级实验名称TTL门电路的逻辑功能测试姓名实验时间2010年　月　日学号指导教师报告内容一、实验目的和任务1、测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。2、了解测试的方法与测试的原理二、实验原理介绍实验中用到的基本门电路的符号为：&ABY≥1ABA1&≥1=1在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。三、实验内容和数据记1、将74LS08与门、74LS32或门、74LS00与非门、74LS02或非门、74LS86异或门的输入端分别接逻辑电

2、平输出单元，相应的输出端接逻辑电平显示单元。（发光表示1，不发光表示0）2、按“实验电路接线的次序和方法”检查无误，即可进行实验。3、记住：电源=+5V，正确处理闲置端。4、改变逻辑电平开关的组态，观察输出端的状态。5、对输入、输出的状态作记录,填写真值表。四、实验结论与心得对照附录的相应芯片的引脚图，按照芯片的管脚分布图接线，得到如下各芯片的真值表：输入A输入B输出Y000011111101输入A输入B输出Y00001011110074LS0874LS3274LS00输入A输入B输出Y001011110101输入A输出Y0110输入A输入B输出Y001010110100输入A输入B输出

3、Y00001111010174LS0474LS0274LS86按照芯片各逻辑门的真值表与所得的真值表，得出：1.74LS08是与门，逻辑表达式Y=AB2.74LS32是或门，逻辑表达式Y=A+B3.74LS04是非门，逻辑表达式Y=4.74LS00是与非门，逻辑表达式Y=5.74LS02是或非门，逻辑表达式Y=6.74LS86是异或门，逻辑表达式Y=本次试验主要是让我们对各种门电路进行一个直观的了解，实验相对简单，完成的较快，同时让我对各种基本芯片有了一个较全面的了解，对于各种芯片的基本连接方法和注意事项有了基本的了解，对数电实验产生了浓厚的兴趣。成绩教师签名陈李胜批改时间年月日