SPC统计制程品管.doc

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1、STATISTICALPROCESSCONTROL(SPC)(统计制程管制)一、管制图之选用量测系统（量具之变异在可允许之范围内）品质之决定进料检验完工检验制程能力分析1．双边规格2．单边规格（品质特性质）1．计量值从←X，σ←S2．计数值P←P1.Ca2.Cp3.Cpk4.P(不良率)量测系统品质之决定制程管制制程能力分析品质特性质3．计量值从-X-R,X-6,X-R,X-Rm4．计数值-Pm,P,C,U,D新速管制图雅式管制图5.Ca6.Cp7.Cpk8.P(不良率)不同单位之品质比较，使用Cv（变异系数）=S/X（或同一单位，但不同品质特性质）37以管制图进行制程能力分

2、析一组数据之变化情形，除了可以用图形法来表示外，数量化之描述亦以提供有用之情报。数据之量化表示有很多种，常用的有平均数（mean）、中位数（median）、众数（mode）、变异数（variance）、标准差（standarddeviation）。1.平均数假设X1，X2，…，Xn为样本中之观测值，样本数据之集中趋势可由样本平均数来衡量，样本平均数定义为2.变异数变异数是用来衡量数据之散布情形。样本变异数S2为S2=37计数值管制图1．不良率管制图（pchart）CLp=UCLp=LCLp=2.不良数管制图(pnchart)CLpn=UCLpn=LCLpn=(σpn=)3．缺

3、点数管制图（cchart），样本大小相同CLc=UCLc=LCLc=4．单位缺点数（uchart），样本大小不相同CLu=UCLu=LCLu=37计量值管制图管制图管制图类别群体之μ及σ未知时群体之μ及σ已知时平均值管制图全距管制图CLR=d2σUCLR=D2σLCLR=D1σ-S管制界限公式图别群体情况未知群体情况已知平均值管制图CLX=μUCLX=μ+AσLCLX=μ-Aσ标准差管制图CLS=C2σUCLS=B2σLCLS=B1σ管制图图别群体情况未知群体情况已知中位值管制图CLX=μ全距管制图CLR=d2σUCLR=D2σLCLR=D1σ37X-Rm管制图X管制图管制图

4、机遇原因之变异（commoncause）非机遇原因之变异（specialcause）1.大量之微小原因所引起。2.不管发生何种之机遇原因，其个别之变异极为微小。3.几个较为代表性之机遇原因如下：（1）原料之微小变异。（2）机遇之微小振动。（3）机器测定时不十分精确之作法。4.实际上要除去制程上之机遇变异原因，是件非常不经济之处置。1.一个或少数几个较大原因所引起。2.任何一个非机遇原因，都可能发生大之变异。3.几个较为代表性之非机遇原因如下：（1）原料群体之不良。（2）不完全之机遇调整。（3）新手之作业员。4.非机遇原因之变异不但可以找出其原因，并且除去这些原因之处置，在经济

5、观点上讲常是正确者。37管制图之选定原则管制图之选定资料性质？资料是不良数或缺点数？样本大小n≥2?中心线CL之性质？n是否一定？单位大小是否一定？n是否较大？X―σ图X―R图X―Rm图―R图pn图p图C图u图计量值计数值n≥2n=1不良数缺点数一定不一定一定不一定Xn=2~50

6、后，才抽本，将其区分为良品与不良品，所需数据，能以简单方法获得之。2．对于工厂整个品质情况了解非常方方便。只靠此种管制图，有时无法寻求不良之真正原因，而不能及时采取处理措施，而延误时机。37管制图之绘制流程（步骤）决定管制项目标准化搜集数据绘制解析用管制图解析安定状态？绘制直方图满足规格？管制用管制图追求、去除异常原因以达安定状态。检讨机械、设备等等提升制程能力满足不满足安定状态非安定状态371．检定规则一：有单独一个点子，出现在三个标准差区域之外者。（有一点落在管制界限之外者）。如图22。UCLCL+3σ+2σ+1σA区B区C区图222．检定规则二：连续三点之中有两点落在A

7、区或甚至于A区以外者。（在中心线之同侧三个连续点中有两点出现在两个标准差之外者）。如图23。UCLCL+3σ+2σ+1σA区B区C区图233．检定规则三：连续五点之中有四点落在B区或甚至于以外者。（在中心线同侧，五个连续点中有四个点超出一个标准差者）。如图24。UCLCL+3σ+2σ+1σA区B区C区图24371．检定规则四：连续有八点落在C区或甚至于在C区以处者。（八个连续点子落在C区或其中连续七点出现在中心线之同一侧者）。UCLCL+3σ+2σ+1σA区B区C区图252．检定规则五：连续几点同一方向