物料验收标准指导书

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1、目的:规范IQC检收标准规范，指导IQC检验员正确验收。二、范围：凡屈木公司发光二级管LED（LAMP）进料检验均适用。固晶胶，金线，晶片"，支架，环氧树脂（ABCPDP胶）模条及和关辅料。三、定义：批次定义：同一批次材料，在相同工艺条件下生产的型号相同,生产批号相同的原材料，H同一日期交货的为同一批次來料检验。四、权责：IQC检验员严格按此检验规范作业，对物料供货商作有效品质考核；1QC主管严格按此标准督导检验员作业；五、说明：见物料验收标准（固晶胶/金线/晶片/支架/环氧树脂/模条及相关辅料。1.支架：支架尺寸图：项目图面说明内容描述缺点等级处理方式核对1.数量不符

2、：來料数量与实际数量不严重缺点上报采购及主管一致2.核对包装箱，包装袋，型号书写，防伪标签等是否用对包装，标示核对：生锈◎1―『7匚O核对包装箱，包装袋，型号书写，防伪标签等是否川对。3.大数（包数）核对：对整批包数进行清点，看是否与送货单数量相符。功能区以及其他：区域不能有牛:锈状况出现严重缺点退货处理压伤1•碗杯内不可有压伤2•第二焊点压伤不可大于表而积的次要缺点申请特采1/4焊点不平四边边缘的1/4单边的1/5毛边I.碗杯内不可有粗糙2第二焊点粗糙而不能超过四边边缘的1/4或单边的1/51功能区毛边WO.lmm.严觅缺点退货处理2其它区域毛边W0・2nm次要缺点申

3、请特采支架变形支架放在品台上冇弯曲变形现象次要缺点申请特采碗杯变形外边缘A受损变形遮盖内边缘B部分或杯内凹严重缺点按抽样计划进行支架错位A点错位不可超出中心线的1/4严重缺点按抽样计划进行支架间距不符阴阳极间距Amin=0.1mm其中同一批来料必须满足Amax-Ainin<0.07min.严垂缺点按抽样计划进行项H图面说明内容描述缺点等级处理方式支架尺寸尺寸量测项冃参照尺寸附图来检验，未列入公差规格按规格书检验严重缺点按抽样计划进行尺寸E、GKF、J公差伽）±0.1±0.15±0.05银脚变形支架PIN脚变形严巫缺点按抽样计划进行沾锡不良支架过锡温度:280度和380度

4、。沾锡面积未达到9X%沾锡或银层拖落。严重缺点退货处理拉力在机台最佳状态时，空焊支架140PCS测量其拉力,拉力低于金线标准。严重缺点退货处理高温烘烤经温度17（）°C±5°C/2H烘烤后支架变色明显或影响支架焊接性支架起泡镀银层脱落现象严重缺点退货处理电镀起泡碗杯内有电镀不良起泡严重缺点退货处理支架变色支架颜色异状次要缺点申请特采支架厚度1.所订的支架的厚度相差8uincho2.M样品支架的不一样。次要缺点申请特采爬胶1.支架的银脚四1卅有咼于1.25mm爬胶。主要缺点申请特釆芯片:项目可接收图不可接收图内容描述缺点等级处理方式资料不符进货材料与资料不符者严重缺点退货

5、处理混料混冇两种（含）以上不同型号者严巫缺点退货处理电极残缺1•不得大于原电极而积1/42.任意一角缺少不得超过原长度的2/3次要缺点按抽样计划进行3.扇型pad切歪不可损失电极面积1/10电极多余1•不得超过原电极1/4而积2•扇型pad不可接触到发光区3.发光区上的电极多余不可超出发光区次要缺点按抽样计划进行电极污染1•污染面积不可超过电极面积的20%2.污染使pad氧化，腐蚀影响焊线品质者拒收次要缺点按抽样计划进行电极受损1•擦伤面积不可超过电极面积的25%2.刮伤若露出底材则需挑除次要缺点按抽样计划进行电极变色1.呈现照褐色，无金属光泽。2.无法判定者作焊线测试

6、。次要缺点按抽样计划进行金道遗失不可有•两根或以上.金道未与N极联接次要缺点按抽样计划进行发光面残缺1•边缘残缺面积不可超过原面积的1/42•双电极的中间破损不可大于N电极的1/3次要缺点按抽样计划进行背晶缺失缺失而积不可超过正常而积的20%次要缺点按抽样计划进行发光面受损1•表面轻微刮伤不可人于发光区面积之1/5o2.深度刮伤露出底材德长度不得大于发光区宽度的1/4。3•刮痕不可贯穿发光区。次要缺点按抽样计划进行发光污染1•污染面积不可超过发光面面积的20%次耍缺点按抽样计划进行日日片缺失1•缺损宽度不可超过晶片宽度的20%次要缺点按抽样计划进行品片切割不良1.多余晶

7、片宽度不可超过品片宽度的20%次要缺点按抽样计划进行连晶连晶不接受次要缺点按抽样计划进行电极偏移Y<=X/2或X<=Y/2次要缺点按抽样计划进行晶片歪斜倾斜角度不可超过20°次要缺点按抽样计划进行晶片偏移晶片排列偏移不可大于1/2晶片宽度（和邻晶片）次耍缺点按抽样计划进行排列不良晶片行列偏移不可大于一个晶片宽度（整张膜晶片）次要缺点按抽样计划进行芯片尺寸晶片长度/宽度高高参晶片规格（误差0.025mm）次耍缺点按抽样计划进行电极长宽参晶片规格（误差0.025mm）次要缺点按抽样计划进行光电性能与实际的光电性能不符（参晶片规格）严重缺点退货